詳細摘要： FJ1210α β γ表面污染測量儀主要用于放射性表面污染測量，可以同時對α、β、γ射線進行測量，該儀器便于攜帶，操作方便，性能優良可靠。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-08-31 在線留言
深圳市國測電子有限公司
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詳細摘要： FJ1210α β γ表面污染測量儀主要用于放射性表面污染測量，可以同時對α、β、γ射線進行測量，該儀器便于攜帶，操作方便，性能優良可靠。
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詳細摘要： 451B電離室巡檢儀是一款電池供電的手持式設備，它采用了的CMOS和LCD技術，可測量高于4 MeV的α射線，高于100 keV的β射線，以及高于7 keV的γ...
產品型號：451B所在地：深圳市更新時間：2022-08-31 在線留言
詳細摘要： 451P型加壓電離室巡測儀是一種手持式電池供電的儀器，是為在惡劣環境和正常環境下可使用而設計的。451P 型巡測儀的特點是有一個加壓電離室，它為測量γ射線和X ...
產品型號：451P所在地：深圳市更新時間：2022-08-31 在線留言
詳細摘要： EMI低頻輻射干擾分析儀NF-5035是一款手持式EMI分析儀器，頻率范圍高達30MHz；利用EMI輻射騷擾其測試本質是測量被測品產生的干擾電磁場，采用高精度三...
產品型號：NF-5035所在地：深圳市更新時間：2022-08-31 在線留言
詳細摘要： EM5030 是一款主要用于查找干擾源，判定干擾產生原因的高性價比近場探頭。可用來檢測器件表面的磁場方向以及強度；
產品型號：EM5030所在地：深圳市更新時間：2022-08-31 在線留言
詳細摘要： PBS1近場探頭適合任何頻譜分析儀、示波器或EMI測試接收機，頻率范圍超寬，滿足您現在以及未來的測量需求。
產品型號：PBS1所在地：深圳市更新時間：2022-08-31 在線留言
詳細摘要： HZ540和HZ550為有源近場探頭套件，設計用于在解決輻射問題時提供診斷幫助
產品型號：hz540所在地：深圳市更新時間：2022-08-31 在線留言
詳細摘要： HZ540和HZ550為有源近場探頭套件，設計用于在解決輻射問題時提供診斷幫助
產品型號：hz550所在地：深圳市更新時間：2022-08-31 在線留言
詳細摘要： HZ540和HZ550為有源近場探頭套件，設計用于在解決輻射問題時提供診斷幫助
產品型號：HZ540L所在地：深圳市更新時間：2022-08-31 在線留言
詳細摘要： EM5020前置放大器主要對微弱信號進行放大， 頻率范圍9KHz-3GHz；EM5020A增益約為20dB，EM5020B增益約30dB,可以大大提高系統測試的...
產品型號：EM5020所在地：深圳市更新時間：2022-08-31 在線留言
詳細摘要： 低噪聲寬帶前置放大器。直接適用于任何譜。也可與其他品牌的頻譜分析儀一起工作。提供了廣泛的頻率范圍和提高靈敏度達40dB。
產品型號：UBBV1所在地：深圳市更新時間：2022-08-31 在線留言
詳細摘要： 低噪聲寬帶前置放大器。直接適用于任何譜。也可與其他品牌的頻譜分析儀一起工作。提供了廣泛的頻率范圍和提高靈敏度達40dB。
產品型號：ubbv2所在地：深圳市更新時間：2022-08-31 在線留言
詳細摘要： ubbv nf25 高阻抗前置放大器頻率范圍1Hz-60MHz，適用任何頻譜分析儀，對低頻微弱信號測量時有非常高的增益
產品型號：UBBV NF-25所在地：深圳市更新時間：2022-08-31 在線留言
詳細摘要： EM5010瞬態限幅器是常用于電磁干擾測試的附件，EMI測試時，當有意外過載情況發生，能夠起到保護后級電路，保護貴重的EMI測試設備
產品型號：EM5010所在地：深圳市更新時間：2022-08-31 在線留言
詳細摘要： 喀嚦聲分析儀NF-5035是一款手持式喀嚦分析儀，頻率范圍高達30MHz，采用高精度三維磁場探頭/單維電場探頭作為感應喀嚦聲間斷產生的峰值電磁場干擾，分辨率達1...
產品型號：NF-5035所在地：深圳市更新時間：2022-08-31 在線留言
詳細摘要： ME3030B是一款高精度數字式低頻電磁場強度檢測儀，它是一款用于檢測、分析低頻磁場和電場的高精度儀器
產品型號：ME3030B所在地：深圳市更新時間：2022-08-31 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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