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介質(zhì)損耗測(cè)試儀，多重保護(hù)安全可靠全該電容的介損及電容量不受環(huán)境溫度、濕度等影響，保證儀器長(zhǎng)時(shí)間使用后仍然精度*。

高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀-久益牌由于采用了變頻技術(shù)能保證在強(qiáng)電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量該儀器同樣適用于車間、試驗(yàn)室、科研單位測(cè)量高壓電器設(shè)備的tgδ及電容量

介質(zhì)損耗測(cè)試儀（微型TPU-A）由于采用了變頻技術(shù)能保證在強(qiáng)電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量該儀器同樣適用于車間、試驗(yàn)室、科研單位測(cè)量高壓電器設(shè)備的tgδ及電容量

久益-優(yōu)質(zhì)介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用微型單片機(jī)技術(shù)。測(cè)量、控溫相對(duì)獨(dú)立，自動(dòng)化數(shù)據(jù)處理。

廠家現(xiàn)貨高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀必須使用相同規(guī)格的保險(xiǎn)管，直流電阻測(cè)試儀禁止使用規(guī)格過(guò)高的保險(xiǎn)管或用導(dǎo)線直接短接。

JY-5800E變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀 輸入電壓為AC220V±10%，超出范圍都有可能影響測(cè)試精度；zui大輸入電壓為AC264V，超過(guò)此值會(huì)造成...

（抗干擾）介質(zhì)損耗測(cè)試儀通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過(guò)矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介...

JY-7000A抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過(guò)矢量運(yùn)算得出試品...

上海-微型打印機(jī)-介質(zhì)損耗測(cè)試儀只需配備標(biāo)準(zhǔn)油杯和測(cè)試線，即可實(shí)現(xiàn)油介損測(cè)量。具有正/反接線工作模式。

自動(dòng)雙變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀只需配備標(biāo)準(zhǔn)油杯和測(cè)試線，即可實(shí)現(xiàn)油介損測(cè)量。具有正/反接線工作模式。

上海（CVT）抗干擾高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀大屏幕液晶顯示器，漢字菜單提示測(cè)試過(guò)程，既直觀又便于操作。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀-及電阻率測(cè)量?jī)x采用變頻技術(shù)來(lái)消除現(xiàn)場(chǎng)工頻干擾，即使在強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下也能測(cè)得可靠的數(shù)據(jù)

優(yōu)質(zhì)-高壓、介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用數(shù)字陷波技術(shù)，避開了工頻電場(chǎng)對(duì)測(cè)試的干擾，從根本上解決了強(qiáng)電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量的難題。同時(shí)適用于全部停電后用發(fā)電機(jī)供電檢測(cè)的場(chǎng)合。

蘇州-電阻率介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用數(shù)字陷波技術(shù)，避開了工頻電場(chǎng)對(duì)測(cè)試的干擾，從根本上解決了強(qiáng)電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量的難題。同時(shí)適用于全部停電后用發(fā)電機(jī)供電檢測(cè)的場(chǎng)合。

久益-35kV介質(zhì)損耗測(cè)試儀大屏幕液晶顯示器，漢字菜單提示測(cè)試過(guò)程，既直觀又便于操作。 標(biāo)準(zhǔn)回路大電流50mA（In=UωCn）

高壓CVT介質(zhì)損耗測(cè)試儀大屏幕液晶顯示器，漢字菜單提示測(cè)試過(guò)程，既直觀又便于操作。 標(biāo)準(zhǔn)回路大電流50mA（In=UωCn）

變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀/銷售現(xiàn)貨通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位等，再由單片機(jī)運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過(guò)矢量運(yùn)算便可得出試品的電容值和介...

異頻/抗干擾高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位等，再由單片機(jī)運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過(guò)矢量運(yùn)算便可得出試品的電容值和...

自動(dòng)式雙變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀環(huán)境溫度：0~40℃（當(dāng)溫度超出20℃±5℃時(shí)，每變化10℃儀器基本誤差的改變量不超過(guò)基本誤差限的1/2。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀及電阻率測(cè)量?jī)x環(huán)境溫度：0~40℃（當(dāng)溫度超出20℃±5℃時(shí)，每變化10℃儀器基本誤差的改變量不超過(guò)基本誤差限的1/2。