【儀表網(wǎng) 產(chǎn)業(yè)報道】近日，上海市計量測試技術(shù)研究院機械所雷李華博士帶領(lǐng)精密幾何量創(chuàng)新團隊，聯(lián)合浙江大學、同濟大學、中國測試技術(shù)研究院等9家高校研究所及知名企業(yè)共同申報的“車規(guī)級 IGBT 功率半導(dǎo)體模塊檢測關(guān)鍵技術(shù) NQI 集成應(yīng)用示范”項目順利獲得國家重點研發(fā)計劃項目立項。該項目是上海市計量測試技術(shù)研究院第一個成功獲批的國家重點研發(fā)計劃“國家質(zhì)量基礎(chǔ)設(shè)施(NQI)體系”應(yīng)用示范類項目，為上海市計量測試技術(shù)研究院服務(wù)國家戰(zhàn)略產(chǎn)業(yè)及成果轉(zhuǎn)化開辟新途徑。
 

　　項目組擬針對IGBT芯片幾何特征測量中標準物質(zhì)研究滯后、關(guān)鍵量檢測設(shè)備大量依賴進口、標準規(guī)范缺失等“卡脖子”問題，聚焦功率半導(dǎo)體模塊“測量-封裝-檢測”全產(chǎn)業(yè)鏈NQI關(guān)鍵技術(shù)，重點開展“測量溯源-基礎(chǔ)研究-關(guān)鍵技術(shù)-計量校準-集成示范”系列研究。該項目以提升IGBT芯片幾何尺寸測量、模塊封裝測試及可靠性評估能力為目標，為進一步實現(xiàn)高端功率器件的進口替代提供理論和技術(shù)依據(jù)。
 

　　國家重點研發(fā)計劃為我國國民經(jīng)濟、社會發(fā)展主要領(lǐng)域提供持續(xù)性支撐及引領(lǐng)。該項目的成功獲批將推動上海市計量測試技術(shù)研究院在IGBT/SiC功率半導(dǎo)體模塊領(lǐng)域關(guān)鍵技術(shù)研究創(chuàng)新，提升上海市計量測試技術(shù)研究院在高端測量技術(shù)、設(shè)備研發(fā)等方面的能力，促進相關(guān)科研成果轉(zhuǎn)化與應(yīng)用。上海市計量測試技術(shù)研究院機械所將繼續(xù)以服務(wù)國家戰(zhàn)略需求為己任，瞄準科技發(fā)展前沿，立足科技創(chuàng)新，不斷加強有組織科研，為國家、行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展添磚加瓦。