導(dǎo)讀：美國(guó)俄亥俄州克利夫蘭，2011年7月20日訊—吉時(shí)利儀器公司（NYSE：KEI），作為*電子測(cè)試儀器和系統(tǒng)的制造商，今日宣布，R&D雜志的編輯們第22次向該公司頒發(fā)R&D100大獎(jiǎng)——這次是授予2010年推出的Model4225－PMU超快速I－V模塊。R&D雜志的編輯每年向創(chuàng)新性的100項(xiàng)技術(shù)頒發(fā)該大獎(jiǎng)。
　　
　　美國(guó)俄亥俄州克利夫蘭，2011年7月20日訊—吉時(shí)利儀器公司（NYSE：KEI），作為*電子測(cè)試儀器和系統(tǒng)的制造商，今日宣布，R&D雜志的編輯們第22次向該公司頒發(fā)R&D100大獎(jiǎng)——這次是授予2010年推出的Model4225－PMU超快速I－V模塊R&D雜志的編輯每年向創(chuàng)新性的100項(xiàng)技術(shù)頒發(fā)該大獎(jiǎng)。
　　
　　4225型－PMU模塊與吉時(shí)利的4200型－SCS半導(dǎo)體特性測(cè)試系統(tǒng)一起使用。該模塊的革新在于它能夠在單臺(tái)測(cè)試儀器中為工程師們集成了超快速的的電壓波形發(fā)生能力以及電路/電壓測(cè)量能力。此前，人們需要同時(shí)使用若干臺(tái)獨(dú)立的儀器才能獲得此類能力，對(duì)于工程師而言，這一配置方式不僅成本高昂而且耗時(shí)很長(zhǎng)。
　　
　　4225型－PMU的開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)成員之一LeeStauffer指出，開(kāi)發(fā)該儀器必須實(shí)現(xiàn)的創(chuàng)新性工作對(duì)公司來(lái)說(shuō)是一項(xiàng)重大挑戰(zhàn)。“我們珍視在過(guò)去的歲月中所贏得的各次R&D100大獎(jiǎng)，但看到這項(xiàng)特別的產(chǎn)品得到R&D的編輯們的認(rèn)可卻給予我們格外的滿足感，因?yàn)樗転槲覀兊目蛻籼峁┮环N完整的解決方案，從而能詳盡地獲取器件、材料或者工藝的特性。4225型－PMU可以讓4200－SCS型執(zhí)行的DCI－V測(cè)量（通過(guò)使用4200型－SCS的SMU）、AC阻抗測(cè)量（通過(guò)使用4210型－CVUC－V儀器）和超快速的I－V或者瞬態(tài)I－V測(cè)量（使用4225型－PMU）。將3種型號(hào)的儀器全部集成到一臺(tái)成本經(jīng)濟(jì)、機(jī)柜化的系統(tǒng)中，就可以讓研究者避免自己進(jìn)行系統(tǒng)集成所造成的時(shí)間延遲，讓他們能更快地開(kāi)展測(cè)試。”
　　
　　安裝4225型－PMU后，4200－SCS型系統(tǒng)就可以在電壓、電流以及上升/下降/脈沖時(shí)間方面提供業(yè)界zui寬的動(dòng)態(tài)范圍；它還可以極大地?cái)U(kuò)展該系統(tǒng)在材料、器件和工藝特性的測(cè)量方面的潛力。同樣重要的是，4225型－PMU可以像進(jìn)行DC測(cè)量一樣簡(jiǎn)便地完成超快速的電流－電壓信號(hào)源輸出和測(cè)量。其寬闊的、可編程設(shè)定的信號(hào)源輸出與測(cè)量范圍、脈沖寬度和上升時(shí)間，意味著它是同時(shí)要求超快速的電壓輸出和同步化的測(cè)量的各類應(yīng)用的理想選擇，涵蓋了從納米CMOS到閃存器的各種應(yīng)用