光學結構 | 反射 : d/8;SCI ( 鏡面光包含 )/SCE ( 鏡面光不包含 ) 可切換 ; d/8 光學結構符合 ISO 和 DIN 標準 ; d/0 之光學結構也符合 CIE 和 ASTM 標準 穿透 : d/0. |
偵測器 | Dual 18-element silicon photodiode array with wedge-shape continuous interference filter |
測量波長范圍 | 可見光從 400 到 700nm 每間隔 20nm |
精確度 | 反射率從 0 到 175% Resolution: 0.01% |
光源 | 脈沖氙弧燈 |
測量時間 | 大約 2.5 秒 . ( 從開始測量到數據輸出 ) |
測量間隔時間 | 3 秒 |
照明 / 測量 面積 | 反射 : 可更換 : ψ 36mm 照明 /ψ 30mm 測量 ; ψ 11mm 照明 / ψ 8mm 測量 穿透 : 大約ψ 22mm |
穿透測量之樣品 | 薄片 , 色板 , 或 液體 ( 裝在容器中 ) zui大厚度不超過 50mm |
再現性 | 光譜反射率 : 標準偏差 ≦ 0.2% 色差值 : 標準偏差Δ E*ab≦ 0.05 ( 測量條件 : 執行校正后測量校正白板 , 測 30 次每次間隔 10 秒 ) |
機臺交換性 (LAV) | 平均Δ E*ab 0.15 基于 12 BCRA Series Ⅱ 色板測量值與標準機臺比較 . |
溫度影響 | 光譜反射率 : ≦± 0.3%/ ℃ 色差值 : ≦Δ E*ab 0.05/ ℃ |
通訊接口 | RS-232C |
電源 | AC 100V/120V/230V 50/60Hz |
操作溫度 / 濕度范圍 | 0 to 40 ℃ (32 to 96F); 低于 85% 相對濕度 (at 35% ℃ /95F) 無冷凝 |
儲存溫度 / 濕度范圍 | -20 to 45 ℃ (-4 to 113F); 低于 85% 相對濕度 (at 35% ℃ /95F) 無冷凝 |
體積 (W × H × D) | 413 × 190 × 240mm |
重量 | 10kg (22 lb.) |
標準配置 | 校正白板 CM-A120; 目標罩 ( ψ 8mm)CM-A122; 目標罩 ( ψ 30mm)CM-A123; 零點校正盒 CM-A124; 盒子 CM-A67; 變壓器 AC-A12; RS-232C 通訊線 IF-A12 |