涂層測厚儀概述

TT240覆層測厚儀|薄膜測厚儀是一種手持式測量儀，它能快速、無損傷、精密地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；可廣泛用于在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域；是材料保護專業*的儀器。

符合以下標準：

• GB/T 4957-1985 渦流方法
• JJG 818-93 《電渦流式測厚儀》
• JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀

涂層測厚儀功能特點

• 采用了渦流測厚法，可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度
  （如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層）
• 具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
• 具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（APPL）
• 設有五個統計量：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
• 可進行零點校準和二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正
• 具有存貯功能：可存貯350個測量值
• 具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據
• 可設置限界：對限界外的測量值能自動報警
• 具有打印：可打印測量值、統計值
• 具有與PC機通訊的功能：可將測量值、統計值傳輸至PC機，以便對數據進行進一步處理
• 具有電源欠壓指示功能
• 操作過程有蜂鳴聲提示
• 具有錯誤提示功能
• 具有自動關機功能

涂層測厚儀技術參數

• 測頭類型：N
• 測量原理：電渦流
• 測量范圍： 0-1250um | 0-40um（銅上鍍鉻）
• 低限分辨力：1µm（10um以下為0.1um）
• 探頭連接方式：分體式導線連接
• 示值誤差：
  1. 一點校準（um）：±[3%H+1.5]
  2. 兩點校準（um）：±[（1%~3%）H+1.5]
• 測量條件：
  1. zui小曲率半徑（mm）：凸3 | 凹10
  2. 基體zui小面積的直徑（mm）：ф5
  3. zui小臨界厚度（mm）：0.3
• 溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
• 統計功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
• 工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
• 測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
• 上下限設置：無
• 存儲能力：350個測量值
• 打印/連接計算機：可選配打印機/能連接電腦
• 關機方式：手動和自動
• 電源：二節AA型堿性電池
• 外形尺寸：152×47×35mm
• 重量：370g

涂層測厚儀基本配置

• 主機
• 鋁基體
• 標準片一套|五片
• 二節AA型（5號）1.5V電池
• 儀器保護套
• 使用說明書

涂層測厚儀可選附件

• TA230打印機