2600系列數字源表系列給電子元器件和半導體制造商提供了一個靈活的、高效的、性價比的方案,適合于精確DC、脈沖和低頻AC的源-測量測試。基于zui初2400系列數字源表的緊湊集成源-測量技術,2600系列儀器在I-V測試應用中能夠提供相當于同類產品的二到四倍的測試速度。它們還具備更高的源測量通道密度并且比同類產品顯著地降低了使用成本。的模數轉換器在小于100μs的時間內可同時提供I和V測量值 (10,000 讀數/s),源-測量掃描速度為200μs每點 (5,500 點/s)。這種高速的源-測量能力加上*的自動化特性及軟件工具使得2600系列數字源表系列成為廣泛用于多種器件I-V測試的理想方案。
無需主機的靈活系統
2600系列結合了創新的技術從而可以經濟的建立多通道I-V測試系統而無需犧牲產能。TSP-Link是高速的系統擴展連接,可讓您以主/從配置連接多臺2600系列儀器。
一旦連接配置完成,系統內所有的2600系列儀器都可以在主機的控制下進行編程和操作,而且不需要機架/主機,TSP-Link給您實質上的無限靈活,從而調節系統通道的數量來匹配變化的應用需求,同時確保無縫集成。
新性能增加測試速度并降低測試成本
測試腳本處理器(TSP)
測試腳本處理器(TSP)是2600具有的另一項新技術,任何基于2600系列的系統都可以在主單元的TSP上高速的運行嵌入式測試腳本。測試序列被嵌入儀器中的處理器上處理并執行,而不是由外部的PC控制,由此消除了GPIB傳輸導致的延遲。對同一臺儀器,使用TSP測試腳本可以獲得的吞吐量是使用PC程序通過GPIB接口時吞吐量的10倍。TSP測試腳本可以從前面板或通過系統的GPIB接口加載并運行。只需一個運行于主單元的TSP測試腳本,就可以控制系統中所有的源-測量通道,并可以從任何連接到TSP-Link的2600系列儀器中采集數據,zui多可支持64臺2600互聯在一起。
TSP用于*的自動化
一個基于2600系列的系統可以作為一個完整的自動化測量方案而獨立工作,適用于半導體器件或元器件測試,由主控的2600單元來進行激勵、測量、通過/失效判斷、測試序列流程控制、分級篩選、元器件分選機或探針臺控制。與已嵌入的測試程序裝置相比,TSP測試腳本具有更好的編程靈活性,包括支持:
第三代SMU設計實現更快的測試速度 2600系列的新SMU設計大大提高了測試速度。例如,較早的設計使用了并聯的電流量程布局,2600系列使用了建立更迅速的串聯量程布局(申請中),這提供了更快且更平滑的量程變換和輸出。它也允許對電流輸出限制的編程獨立于電流量程,用于電容性負載的快速充電和實驗臺使用中更直覺的操作。
每個2600系列數字源表的通道都提供高度的靈活性、具有電壓和電流表/限制器的四象限電源。每個通道都可被設置為一個:
具有同時源回讀能力的高速高精度模數轉換器
各款2600系列儀器都提供四象限操作并可被串聯或并聯來擴展動態范圍。在一三象限,它們作為源,對負載輸送功率。在二四象限,它們作為熱沉,在內部耗散功率。它們以五位半的分辨率同時測量電壓和電流,并顯示電壓、電流、電阻或功率讀數。
每通道兩個模數轉換器(分別用于I和V)可同時工作,提供精確的源回讀而不犧牲測試速度。這些模/數轉換器提供可編程的集成比率,允許用戶進行優化,以實現高速度(>10,000讀數/秒,在 0.001NPLC設置時)或高分辨率(高達24位,在 0.001NPLC設置時)來進行高準確度的測量。
數字I/O接口
每個2600系列儀器的背面板端口都提供14位通用數字I/O,可將儀器連接到多種流行的機械手以實現測試后的分選和裝箱。這些I/O線也兼容Keithley較早的Trigger Link儀器觸發技術。這些線路可以容易的將2600系列儀器集成為一個使用外部儀器的系統,包括2400系列數字源表儀器、7000系列開關主機和2700系列數據采集/多用表集成系統。
內置接觸檢測功能
接觸檢測功能可以在自動測試序列開始前簡單而迅速的檢驗連接是否良好。這消除了與接觸疲勞、破損、污染、松弛或損壞的連接、繼電器失效等有關的測量誤差和產品失效誤判。
圖形化的儀器設置。LabTracer2.0支持多達八個2600或2400系列數字源表通道。2400和2410數字源表還支持電壓擴展能力。LabTracer2.0的儀器設置窗口的下拉菜單中可以配置數字源表的任意通道,來進行定點或掃描操作。配置完成后,只需一次按鍵即可執行測試。
從研發到函數測試的I-V測試應用
2600系列數字源表為研發測試提供易于使用、功能強大的解決方案。同時滿足批量產品測試所需的速度和可靠性。
功能強大且易于使用,適合研發應用
在研發和器件特性分析環境中,無論是用于交互式還是自動化測試,2600系列都具備高度的測試通用性。可免費下載的LabTracer2.0軟件使用戶能夠迅速、方便的配置并控制多達八個2600或2400系列數字源表通道,可用于曲線追蹤或器件特性分析。其簡明的圖形化用戶界面可以從數字源表上方便的實現建立、控制、數據采集和DUT數據繪圖。將LabTracer和數字源表配合使用,是特別適合實驗室用戶的功能強大、易用且經濟的機架式方案。
測試完成后,數據顯示在電子表格面板和圖形面板中。可以通過對結果應用公式來對測量數據進行處理。對于更詳細的分析,只需簡單的剪切和粘貼,數據即可被導出到Microsoft® Excel中。
大幅提高產品測試產能
2600系列儀器幫助元器件制造商大幅度提高測試產能,同時提供能處理如今器件的測試方案。如今的器件通常比早期的器件有更高的管腳數和模擬電路。過去,制造商迫于缺乏為多通道源-測量應用而優化的測試方案,不得不在笨重、昂貴的基于主機的系統、由PC控制的緩慢的基于儀器的系統和需要復雜的開發才能實現的快速的基于儀器的系統之間做出選擇。2600系列提供:
測試腳本編輯軟件
est Script Builder是一款免費軟件,隨2600系列數字源表提供,幫助用戶建立、修改、調試和存儲TSP測試腳本。它提供一個項目/文件管理器窗口來存儲和組織測試腳本,文本敏感的程序編輯器(類似Visual Baisic)用于創建和修改測試TSP代碼,并且即時控制窗口能發送GPIB指令并從儀器接收數據。即時窗口可以查看已有的測試腳本,且便于調試。
典型應用
• 對多種器件進行I-V函數測試和特性分析,包括:
- 分立的和無源的元器件
- 雙引腳 - 電阻、盤驅動器頭、金屬氧化物變阻器(MOV)、二極管、齊納二極管、傳感器、電容器、熱敏電阻
- 三引腳 - 雙極型小信號晶體管(BJT)場效應晶體管(FET)等
- 并行測試 – 雙引腳、三引腳元器件陣列
- 簡單集成電路 – 光學、驅動器、開關、傳感器
• 集成的器件-小規模集成(SSI)和大規模集成(LSI).
- 模擬IC
- 射頻集成電路(RFIC)
- 應用定制的集成電路
- 系統級芯片(SOC)器件
• 光電器件如發光二極管(LED)、激光二極管、高亮度LED(HBLED)、垂直共振腔面射型激光器(VCSEL)、顯示器
• 上述器件的研發和特性分析