低阻抗分析儀MCP-T370表面低阻抗儀MCP-T370(替代MCP-T360)
低阻抗分析儀MCP-T370四探針?lè)桨?一觸式高精度的各種材料的表面電阻率測(cè)量。
查找只需按下啟動(dòng)按鈕,確認(rèn)自動(dòng)測(cè)量功能,可自動(dòng)保持當(dāng)前的測(cè)量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準(zhǔn)模式。檢查探頭校準(zhǔn)片(另售),以確認(rèn)Roresuta AX測(cè)試值的準(zhǔn)確性。
測(cè)量數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到USB存儲(chǔ)器。
規(guī)格 測(cè)量方法 四端四探針?lè)?/font>
施加恒定電流的方法 測(cè)量范圍 10 -2?10 6 Ω 標(biāo)準(zhǔn)配置 四探針探頭(ASP)AC適配器 說(shuō)明書(shū) 檢查確認(rèn)書(shū)
選項(xiàng) |
探頭選項(xiàng) | ||
類型 | 適用被測(cè)試樣品 | 型號(hào) |
ESP | 對(duì)于異類樣本 | MCP - TP08P |
PSP | 小樣本的薄膜 | MCP - TP06P |
QPP | 對(duì)于小樣本 | MCP - TPQPP |
TFP | 有關(guān)硅晶片或玻璃基板薄膜 | MCP - TFP |
校準(zhǔn)塊 | 型號(hào):MCP - TRF1 |