- 性能參數
產品型號：EDX8000
產品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍：0.1 ppm—99.99%（視材料有所不同）
同時分析元素：一次性可測四十種元素
測量時間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：130±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：35%-70%
性能特點
超薄窗X光管，全進口配置，性能指標達到*水平
業界*的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS。
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然
標準配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數字多道技術
光路增強系統
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
進口真空配置，真空度高
應用領域
水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業、石油勘探錄井分析領域。同時在地質、礦樣、冶金、稀土材料、環境監測、有色金屬、食品、農業等科研院所、大專院校和工礦企業中也得到廣泛應用。
