數字式四探針測試計 四探針測試計 測試計 型號:M382946/1934B
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型號:M382946/1934B
測量范圍 電阻率:10-2~102Ω-cm;方塊電阻:10-1~103Ω/□;電阻:10-3~9999Ω
可測半導體材料尺寸 直徑:Φ15~100mm; 長(或高)度: ≤400mm
外形尺寸 主機 170mm(D)×130 mm(W)×50mm(H)
電源 功 耗:<1W; 電源適配器:輸入:220V±10% 50Hz; 輸出:DC5V±10%