代理產品:光通信RXT-OSA光譜分析儀
CWDM/DWDM
網絡的光譜/光通道分析
VeEX® RXT是一款業內配置zui靈活,工程設計zui緊湊的模塊化測試平臺,采用*的微型光學設計和MEMS調制技術,RXT OSA光譜分析儀可以測量主要的光學參數,如波長,通道功率以及OSNR(光信噪比)
1. 平臺亮點
1、WDM波長的準確測試
2、寬波長范圍
3、高波長精度和分辨率
4、內置參考波長
5、高靈敏度
6、功率精度高
7、設計緊湊, 重量小, 單插槽模塊
8、設計堅固,高可靠性-無移去的配件
9、*的耐沖擊性
10、無需定期校準
11、超低功耗
12、溫度靈敏度低
13、操作功能直觀,具有的測試功能
14、觸摸屏便于簡單的縮放和導航
代理產品:光通信RXT-OSA光譜分析儀
2. 主要功能
1、S, C 和 C+L 波段的波長范圍
2、快速連續掃描,全波長掃描時間 < 3秒
3、可以同時進行160 個通道的波長測量
4、DWDM通道間隔可以達到50 GHz
5、通道功率測量
6、通道門限檢測
7、高波長精度: ± 50 pm
8、高動態范圍: >50 dB
9、OSNR測量: >30 dB
10、低偏振相關損耗 (PDL): < 0.3 dB
11、通用光接口為行業標準的光適配器類型
12、支持用于10/40/100GHz傳輸系統中的不同調制方案
3. 測試應用
RXT-OSA測試儀融合了*成熟的OSA分析和光通道分析功能,并達到了*的結合。該分析儀具備在DWDM和CWDM網絡的安裝,調試以及故障排除中的所需的zui重要的頻譜分析功能。儀表通過堅固的機械設計保證了高可靠性,且無需定期校準。為簡單起見,設計人員對硬件和用戶界面進行了全面的優化,測量設置也非常簡單方便,因此大部分工程技術人員很容易使用,在簡化操作的同時,儀表還采用了zui關鍵的OSA測量功能,例如精確的功率測量和波長測量特性。
3.1. CWDM技術
粗波分復用(CWDM)技術是一種面向企業或城域網絡的低成本WDM技術,以低成本增加帶寬容量。 CWDM傳輸系統可以在1270 nm-1610nm之間傳輸多達160個光通道(波長),20nm的通道間隔。每個通道的寬度為13nm,而剩余的7nm被設計為下一個頻道保護頻帶。由于20nm的通道間隔,可以使用低成本的免冷卻激光器。
4. 測試CWDM網絡
相對于DWDM(密集波分復用)系統,由于更寬松的激光波長容限和寬的帶通濾波器被使用,CWDM網絡中的測試參數要求通常是不太嚴格。由于沒有像EDFA(摻鉺光纖放大器)這樣的有源器件增加CWDM網絡的噪聲,使用一個復雜的和昂貴的OSA進行現場測試就不太劃算。
RXT 寬帶OSA選項可以快速的確定16個波長是否存在,并檢查它們的功率電平是否準確。由于好的靈敏度和50 dB動態范圍,OSA分析儀可以連接到一個ROADM(光分插復用器)的20dB的監測點,這樣可以進行理想的非侵入性的通道分析。
WDM技術常被用于輸送不同類型的服務,例如以太網,SDH / SONET和光纖通道(FC),但其在業務傳輸中,它在傳輸距離和總傳輸通道數量上上是有局限性的。
5. 測試應用
5.1 WDM技術
DWDM技術由于其支持EDFA(摻鉺光纖放大),所以特別適用于長距離傳輸系統。ITU-T G.694.1建議標準定義了在C波段(1525-1565 nm)和L波段(1565-1620 nm)中需要50 GHz的信道間隔(0.4 nm),100 GHz的(0.8 nm)和200 GHz(1.6 nm)。密集的分組通道也并非沒有自己的局限性,特別是作為精密激光必須保持標準建議的通道。
5.2 測試DWDM網絡
擁有優良的技術指標,OSA分析儀可以適用于實驗室或野外惡劣環境下運行。無風扇設計保證了在三人不利或受控的條件下的波長測量,在所有的溫度范圍內得到的準確功率結果。OSA分析儀支持C波段或C + L波段測量,且具有良好的波長通道分辨率,所以在檢查關鍵參數以及傳輸故障測試中,RXT OSA分析儀是一款*的工具。
6. 瀏覽模式
瀏覽測量結果可用圖形和表格的格式顯示,測試結果在操作過程中或者測量之后可以優化顯示,閾值設定可以顯示超過已定義門限的通道,或者它也可以被用來減少要瀏覽的通道數。
縮放 -可以通過觸摸筆或手指在屏幕區域,來詳細分析特定的通道。
通道查找 – 可以快速識別有效的DWDM通道,并在通道上自動標記位置,且包含波長和功率信息。
峰值查找/保持 – 簡化通道測量并啟動波長和功率的*穩定性測試,且含有漂移功能。峰值保持對于驗證信號放大(EDFA)前后的功率等級非常實用.
7. 100G傳輸系統
100G系統正在快速部署,大大提升了向多波長CFP(C型可插拔模塊)收發器的升級進度。CFP的可靠部署對于系統來說非常關鍵,因此運營商需要確保這些光學模塊工作無差錯,并能與其它符合標準的模塊互通。CFP面臨一系列新的挑戰,每個光通道的波長的性能和功率測試已變得越來越重要。