鍍層測厚儀X-Strata920 、 CMI900 波譜校正片
鍍層測厚儀 X-Strata920系列
鍍層測厚儀X-Strata920系列，屬于X射線熒光鍍層厚度測量儀，廣泛應用于PCB、FPC、LED、SMT、連接器、端子、五金產品、汽車零部件、衛浴潔具、珠寶等行業的表面鍍層厚度測量、材料分析；是各類電鍍產品鍍層厚度測量的理想檢測工具。
鍍層測厚儀X-Strata920系列具有高性價價比，有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量精準、測量時間短等特點；具有高生產力、高再現性，能有效控制產品質量，節約電鍍成本。
鍍層測厚儀X-Strata920工作特點：
- 測量精度高、穩定性好，測量結果精確至μin
- 快速無損測量，測量時間短，10秒內得出測量結果
- 可定性、半定量和定量分析
- 進行貴金屬檢測，如Au karat評價
- 材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析
- 強大的數據統計、處理功能：平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
- 結果輸出：直接打印或一鍵導出到PDF、Excel文件；報告包含數據、圖像、統計圖表、客戶信息等
- 測量位置預覽功能；高分辨率彩色CCD樣品觀察系統，標準光學放大倍數為30倍
- 激光對焦和自動對焦功能；單擊鼠標，Z軸自動掃描，鐳射聚焦
