梅特勒XP/XS微量天平
XP2U/XP6
1.采用分離的稱量單元和顯示控制單元，避免電子元件散熱對稱量結果準確性的影響
2.天平校驗功能（BalanceCheck），自動提示用戶使用外置砝碼校正/校準天平，確保稱量結果始終準確
3.GWPExcellenceTM一體化安全功能，確保天平始終正確工作
4.優化天平適應性的稱量參數設置，滿足不同稱量環境要求
5.豐富的內置稱量應用程序
梅特勒XP/XS微量天平
XP2U/XP6
1. 采用分離的稱量單元和顯示控制單元，避免電子元件散熱對稱量結果準確性的影響
2. 天平校驗功能（BalanceCheck），自動提示用戶使用外置砝碼校正/校準天平，確保稱量結果始終準確
3. GWPExcellenceTM一體化安全功能，確保天平始終正確工作
4. 優化天平適應性的稱量參數設置，滿足不同稱量環境要求
5. 豐富的內置稱量應用程序：基礎稱量、統計功能、配方稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測量、差重稱量
6. 標配CarePacSR，用于天平的日常測試，確保獲得準確稱量結果
XS3DU
1. 采用分離的稱量單元和顯示控制單元，避免電子元件散熱對稱量結果準確性的影響
2. 優化天平適應性的參數設置，滿足不同稱量環境要求
3. 豐富的內置稱量應用程序：基礎稱量、統計功能、配方稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測量、動態稱量
4. GWPExcellenceTM一體化安全功能，確保天平始終正確工作
| 型號 | XP2U | XP6 | XS3DU |
| zui大稱量值（g） | 2.1 | 6.1 | 0.8/3.1 |
| 可讀性（mg） | 0.0001 | 0.001 | 0.001/0.01 |
| 重復性（sd）（mg） | 0.00025 | 0.0008 | 0.0008/0.006 |
| 線性誤差（mg） | 0.0015 | 0.004 | 0.01 |
| 典型穩定時間（s） | 10 | 7 | 6 |
| 秤盤尺寸（mm） | φ16 | φ27 | φ27 |
DU=雙量程；sd=標準偏差
