半導(dǎo)體高低溫老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途：
高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱是、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能；、或恒定濕熱試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能.適用于學(xué)校，工廠，，研位，等單位。
半導(dǎo)體高低溫老化試驗(yàn)箱型號與參數(shù)：
型號 ：TH－100 TH－150 TH-225 TH-408 TH-800 TH-1000
工作尺寸 ：40×50×40 50×60×50 60×75×50 60×85×80 100×100×80 100×100×100
外型尺寸cm ：120×165×115 130×170×125 140×185×130 165×195×155 185×200×175 190×210×185
半導(dǎo)體高低溫老化試驗(yàn)箱溫度范圍：（A：+25℃； B：0℃；C：-20℃； D：-40℃；E：-60℃；F：-70℃）高溫:100℃（150℃）
符合標(biāo)準(zhǔn)
試驗(yàn)箱具有較寬的溫濕度調(diào)節(jié)控制范圍，可滿足標(biāo)準(zhǔn)本產(chǎn)品滿足GB 2423.1--2001、GB 2423.2—2001、GB2423.3-2001、GB2423.4-2001等標(biāo)準(zhǔn)《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法，試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法》要求。GB 10592—89、GB/T5170.2-96標(biāo)準(zhǔn)制造件，并可按軍標(biāo)試驗(yàn)要求GJB150.3-86，GJB150.4-86，及非標(biāo)準(zhǔn)制作各種高低溫環(huán)境試驗(yàn)。并等效滿足GJB150.9-86等相應(yīng)的國標(biāo)、軍標(biāo)；也可按客戶的要求制造非標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品。
半導(dǎo)體高低溫老化試驗(yàn)箱也可按客戶需要定制非標(biāo)試驗(yàn)箱：
溫度波動(dòng)度：±0.5℃
溫度偏差： ≤±2℃
濕度范圍：30～98% R＆#8226;H
濕度偏差： +2～-3% R＆#8226;H
升降溫平均速率： 0.7℃～1.0℃/min
時(shí)間設(shè)定范圍： 0～9999 小時(shí)
電源要求：AC380V
半導(dǎo)體高低溫老化試驗(yàn)箱箱體結(jié)構(gòu)：
箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。
箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體外膽采用A3鋼板噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。
大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時(shí)清晰的觀測箱內(nèi)狀況。
配直徑50mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用
免費(fèi)送貨上門，并安裝調(diào)試操作介紹（直到需方員工獨(dú)立操作并滿意為止）
：鐘, ： ； ！
