產品簡介

產品簡介 日本三豐SV-3100表面粗糙度儀 特點： SV-3100系列產品可進行高精度、高水平分析，多功能3D表面粗糙度分析，微細輪廓測量，以及原有的表面粗糙度測量。 •自動調水平工作臺、3軸調整臺等外部設備的應用，有效增強了該產品的操作性能，同時也真正實現了自動測量。

詳細介紹

Mitutoyo  日本*

日本三豐SV-3100表面粗糙度儀

特點：

SV-3100系列產品可進行高精度、高水平分析，多功能3D表面粗糙度分析，微細輪廓測量，以及原有的表面粗糙度測量。
•自動調水平工作臺、3軸調整臺等外部設備的應用，有效增強了該產品的操作性能，同時也真正實現了自動測量。
•安裝了專業資料分析軟件SURFPAK-SV使用這一軟件，可對從車間和實驗室中得到的資料進行統一格式的管理。
•采用陶瓷制作的X軸驅動部導軌，因為陶瓷具有*的防磨損性能。無需潤滑油也能正常工作。
•為了保證高精度測量，在X軸和Y軸（選件）上都內置了高清晰度的玻璃尺（X軸分辨率：0.05µm, Y軸分辨率：1µm）因為要保證SV-3100系列產品具有高度的可靠性，特別是對于水平粗糙度參數（S, Sm）, X軸的分辨率就必須達到相當的水平。
•配有高精度測針。
•配有多種功能，如“直線度補償功能”，可確保X軸的線性精度；“圓度補償功能”，可保證測針的垂直移動；以及“針尖半徑補償功能”等。
•測針和測針導頭都可輕松替換?？蛇x測針和滑軌可適應各種粗糙度測量的需要，如小孔測量、深孔測量等。
•在各種型號中，還提供了易于操作的控制箱?？刂葡渑c主機分離，可遙控執行定位、開始／停止測量、返回以及遠程進行其他操作。驅動部的上／下位置和X軸的移動都可手動進行微調。

技術參數X軸
　測量范圍: 100mm或200mm
　分辨率: 0.05µm
　檢測方法:線性編碼器
　驅動速度: 0 - 80mm/s
　測量速度: 0.02 - 5mm/s
移動方向:向后
　直線度: （0.05+1L/1000）µm*
（0.5µm/200mm:測量范圍為200mm的型號）
　傾角范圍: ±45º
Z2軸（立柱）
　垂直移動: 300mm或500mm、動力驅動
　分辨率: 1µm
　檢測方法: ABSOLUTE線性編碼器
　驅動速度: 0 - 20mm/s
檢測器
　范圍／分辨率: 800µm / 0.01µm, 80µm / 0.001µm,
8µm / 0.0001µm （使用測頭選件
時，zui大可達2400µm）
　檢測方法:無軌／有軌測量
　測力: 4mN或0.75mN （低測力型）
　測針針尖:金剛石、90º / 5µmR
（60º / 2µmR:低測力型）
　導頭曲率半徑: 40mm
　檢測方法:差動電感式性能參數：

測量軟件功能: SURFPAK-SV
評估輪廓
P （主輪廓）, R （表面粗糙度輪廓）, WC, WCA, WE, WEA,
DIN4776輪廓、包絡殘余線、粗糙度motif、波形motif
評估參數
Ra, Rq, Rz, Ry, Rz（JIS）, Ry（DIN）, Rc, Rp, Rpmax, Rpi, Rv, Rvmax, Rvi,Rt, Rti, R3z, R3zi, R3y, S, Pc （Ppi）,Sm, HSC, mr, δc, plateau ratio,mrd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Δa, Δq, λa, λq, Sk, Ku, Lo, Lr, A1,A2
　粗糙度motif參數: Rx, R, AR, SR, SAR, NR, NCRX, CPM
　波形motif參數: Wte, , W, AW SW, SAW, NW
分析圖表
ADC, BAC1, BAC2、功率譜圖、自相關圖、Walsh功率
譜圖、Walsh自相關圖、傾斜分布圖、局部峰值分布圖、
參數分布圖
濾波類型2CR-75%, 2CR-50%, 2CR-75% （相位校正）,
2CR-50% （相位校正）,高斯-50%
截止波長*
λc: 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
fl: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
fh: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm
取樣長度（L）*
0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
取樣長度
　傾斜補償、R平面（曲面）補償、橢圓補償、拋物線補償、
　雙曲線補償、二次曲線自動補償、多項式補償、
　多項式自動補償
*可在0.025mm至zui大移動長度間任意長度。