半導體粉末電阻率測試儀 型號:TP28-FZ-2006A
庫號：M348870 查看hh
1.測量范圍：電阻率10-2 -103Ω㎝。
2.小電阻分辨率：0.1mΩ。
3.測量：0.3%讀數±2字。
4.數字電壓表：3檔量程（20mV200mV2V)。
半導體粉末電阻率測試儀 型號:TP28-FZ-2006A庫號：M348870 查看hh 1.測量范圍：電阻率10-2 -103Ω㎝。2.小電阻分辨率：0.1mΩ。3.測量：0.3%讀數±2字。4.數字電壓表：3檔量程（20mV200mV2V)。5.直流恒流源：5檔量程（10μA100μA1mA10mA100mA)。6.顯示：3?位數字顯示0--1999，自動顯示小數點、單位、極性和過載。7. 粉末測量：①.試樣粒度：標準篩網40目以上直至納米材料。②.試樣容器：內腔Φ16.30±0.1㎜、Φ6±0.1㎜（可選件）。③.試樣高度：6--20㎜±0.1㎜；測量±0.1㎜。④.取樣壓力：8MPA±0.5MPA(80㎏/㎝2±0.5㎏/㎝2)。壓力量程0--200㎏可調。8.電源：交流220V±10%，50HZ或60HZ,功率﹤50W。9.電氣箱外形尺寸：440×320×120㎜。
