四探針電阻率檢測儀 型號:TC-KDY-1A
概述
便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導體材料電阻率的及標準測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計。
它主要由電器測量部份(主機)及四探頭組成,需要時可加配測試架。
為減小體積,本儀器用同一塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供,隨時可進行校準,以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1~100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不超過±3%,在此范圍內(nèi)達到標準一級機的水平。
測量范圍:
可測量 電阻率:0.01~199.9Ω•cm。
可測方塊電阻:0.1~1999Ω/口
當被測材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。
(2)恒流源:
輸出電流:DC 0.1mA~10mA分兩檔
10mA量程:0.1~1mA 連續(xù)可調(diào)
10mA量程:1mA ~10mA連續(xù)可調(diào)
恒流精度:各檔均優(yōu)于±0.1%
適合測量各種厚度的硅片
3) 直流數(shù)字電壓表
測量范圍:0~199.9mv
靈敏度:100μv
準確度:0.2%(±2個字)
(4) 供電電源:
AC:220V ±10% 50/60HZ 功率8W
(5) 使用環(huán)境:
相對濕度≤80%
(6) 重量、體積
重量:2.2 公斤
體積:寬210×高100×深240(mm)
(7)KD探針頭
壓痕直徑:30/50μm
間距:1.00mm
探針合力:8±1N
針材:TC
四探針電阻率檢測儀
![]() | 產(chǎn)品名稱: SDI 儀 /污染指數(shù)檢測儀 產(chǎn)品型號:Auto |
SDI 儀 /污染指數(shù)檢測儀型號:Auto
AutoSDI不需要秒表、量筒以及計算器等手動SDI儀所必需的輔助設(shè)備,沒有冗長乏味的手動測試過程。在不到二十分鐘的時間里,AutoSDI可快速計算出5、10和15分鐘的SDI值和堵塞因子(PF)。
膜系統(tǒng)的污堵和產(chǎn)水水質(zhì)的下降將使制水成本增加。現(xiàn)在只要擁有一套AutoSDI儀以及合適的水源(進水壓力:4.5bar;水流量:>3.0Lpm),即可幫助用戶避免膜系統(tǒng)的污堵和優(yōu)化膜系統(tǒng)性能。
AutoSDI工具包,包括檢測儀、便攜式儀器箱,12V直流電源、壓力表、前段預過濾器、SDI測試膜片(每盒100片裝),以及一本用戶手冊。
粉塵采樣器 型號:EP-30
EP-30粉塵采樣器 適 用范圍
本儀器應用濾膜稱重法捕集懸浮在空氣中的固體顆粒。可供環(huán)保、衛(wèi)生、勞動、安監(jiān)、軍事、科研、教育等部門用于氣溶膠常規(guī)監(jiān)測。
執(zhí)行標準 JJG520-2005
EP-30粉塵采樣器 技術(shù) 特 點
◆ 高亮LED顯示屏
◆ 采樣頭采用鋁合金材質(zhì)制造,抗靜電吸附
| EP-30粉塵采樣器 主要參數(shù) | 參數(shù)范圍 | 分辨率 | 準確度 |
流 量 | (5-30)L/min | 0.1L/min | 優(yōu)于±5% | |
采樣時間 | 99小時內(nèi)任意設(shè)置 | 1min | 優(yōu)于±0.2% | |
外型尺寸 |
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儀器噪音 | ≤59dB(A) | |||
整機重量 |
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工作電源 | AC220V±10%,50Hz | |||
| 功 耗 | <40W |