四探針電阻率檢測儀  型號：TC-KDY-1A

概述
便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導體材料電阻率的及標準測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計。
它主要由電器測量部份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。
為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達到標準一級機的水平。
測量范圍：
可測量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。
可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口
當被測材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔
10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào)
10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào)
恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1%
適合測量各種厚度的硅片
 3） 直流數(shù)字電壓表
測量范圍：0～199.9mv
靈敏度：100μv
準確度：0.2%（±2個字）
（4） 供電電源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W
（5） 使用環(huán)境：
相對濕度≤80%
（6） 重量、體積
重量：2.2 公斤
體積：寬210×高100×深240（mm）
（7）KD探針頭
壓痕直徑：30/50μm
間距：1.00mm
探針合力：8±1N
針材：TC

四探針電阻率檢測儀 

產(chǎn)品名稱： SDI 儀 /污染指數(shù)檢測儀 產(chǎn)品型號：Auto

   SDI 儀 /污染指數(shù)檢測儀型號：Auto 

AutoSDI不需要秒表、量筒以及計算器等手動SDI儀所必需的輔助設(shè)備，沒有冗長乏味的手動測試過程。在不到二十分鐘的時間里，AutoSDI可快速計算出5、10和15分鐘的SDI值和堵塞因子（PF）。 
      膜系統(tǒng)的污堵和產(chǎn)水水質(zhì)的下降將使制水成本增加。現(xiàn)在只要擁有一套AutoSDI儀以及合適的水源(進水壓力：4.5bar；水流量：＞3.0Lpm)，即可幫助用戶避免膜系統(tǒng)的污堵和優(yōu)化膜系統(tǒng)性能。 
      AutoSDI工具包，包括檢測儀、便攜式儀器箱，12V直流電源、壓力表、前段預過濾器、SDI測試膜片（每盒100片裝），以及一本用戶手冊。

粉塵采樣器 型號：EP-30

EP-30粉塵采樣器 適 用范圍
本儀器應用濾膜稱重法捕集懸浮在空氣中的固體顆粒。可供環(huán)保、衛(wèi)生、勞動、安監(jiān)、軍事、科研、教育等部門用于氣溶膠常規(guī)監(jiān)測。 
執(zhí)行標準 JJG520-2005 
EP-30粉塵采樣器 技術(shù) 特 點
◆ 高亮LED顯示屏 
◆ 采樣頭采用鋁合金材質(zhì)制造，抗靜電吸附