X熒光鍍膜檢測儀采用X射線熒光的工作原理是,X 射線管產生初級射線照射在受檢物質時,會激發物質放射X-射線螢光輻射,特定的元素有特定的輻射信號,接收器便會記錄這些能量光譜。不需要先對樣品進行處理便能測量,樣品可直接放入測量室進行測量。不需要復雜、昂貴的儀器來抽真空,便能在正常的環境下測量從元素Z=13鋁到Z=92(鈾),固定、漿狀及液體的樣本也可以測量,即使是極小不規則形狀的測量面積也可快速、免接觸的測量。只需短短數秒鐘,所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.
可測量:
- 單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
- 二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
- 三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
- 雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
- 雙鍍層,其中一個鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。