zui大測試管腳:192腳
AT192全品種集成電路測試儀測試適用范圍：
元器件測試-適用于所有類型的集成電路的測試和元器件的篩選測試
電路板測試-適用各種電路板的檢測（附加測試電纜線和各種封裝的測試夾）
測試原理（v-i曲線測試）：
對元器件的每個管腳施加一個安全的低功率的掃描驅動信號，產生一個阻抗特征圖，以備對比和存儲。
被測器件和數據庫中標準動態阻抗圖相比對，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。
測試信號可設定的參數包括: 電壓、波形、源電阻、頻率?？筛鶕枰M行調整以便得到準確的信息。
AT192全品種集成電路測試儀集成電路測試操作如此簡單:
1.從數據庫選擇要測試的集成電路型號.
2.將集成電路插入測試座.
3.執行測試
4.得到PASS或FAIL的測試結果.
不需要電子專業知識.
適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板
靈活、好安裝、宜操作.
測試結果直接: PASS或FAIL.
軟件可設定各種測試條件.
可提供完整的元件測試分析報告.
AT192全品種集成電路測試儀適合不同封裝形式的元件:
-雙列插腳（DIL）
-小型封裝集成集成電路（SOIC）
-小型封裝（SSOP, TSOP）
-塑料無引線芯片載體封裝（PLCC）
-四方扁平封裝（TQFP, PQFP, LQFP）
-球門陣列封裝（BGA）
注意:AT系列不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個模塊。
測試通道
標準提供多達128個測試通道, 可設定用于不同的元器件封裝。
升級模塊：64通道
可擴充到192/256個測試通道。
AT192全品種集成電路測試儀用兩種模式掃瞄:
•一般模式: 掃描信號是以一固定管腳為參考點, 測試信號施加到待測元器件上。
•矩陣模式: 掃描信號是以元器件的各個管腳為參考點, 測試信號循環組合施加到待測元器件上。
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