頻率范圍30kHz-3GHz (opt006 6GHz)
●集成化S參數測試裝置
●集成化1Hz分辨率合成信號源
●可選用時域測量和掃描諧波測量
●達110dB的動態范圍
●可測量群延遲和與線性相位的偏離
●對內置磁盤驅動器的存儲/調用
●提高內置精度
測試裝置
集成化S參數測試裝置以50Ω（標準）或75Ω（選件075）提供完滿的正向和反向測量。外部測試裝置由選件011提供。
測試端口輸出
頻率特性
范圍：
30kHz~3GHz（標準）；
30kHz~6GHz（選件006）
分辨率：1Hz
精度：±10ppm（在25℃±5℃時）
輸出特性
功率范圍：-85~10dBm
分辨率：0.05dB
電平精度：±1.0dB（相對于0dBm輸出電平）
電平線性：（-15~+5dBm）±0.2dBm（典型值）30kHz~300kHz；
（+5 ~ +10dBm）±0.5dBm（典型值） 30kHz ~ 300kHz
阻抗：50Ω
二次諧波：在+10dBm處<-25dBc（16MHz ~ 3GHz）
三次諧波：在+10dBm處<-25dBc（16MHz ~ 2GHz）
非諧波寄生信號（典型值）
與混頻器有關的非諧波寄生信號：在+10dBm處<-30dBc
測試端口輸入特性
頻率范圍：
30kHz~3GHz（標準）；
30kHz~6GHz（選件006）
平均噪聲電平
3kHz BW: -82dBm（<3GHz）, -77dBm（3 ~ 6GHz）
10Hz BW: -102dBm（<3GHz）, -97dBm（3 ~ 6GHz）
zui大輸入電平：+10dBm
損壞電平：±26dBm或35Vdc
阻抗：50Ω（用選件075時為75Ω）
諧波：（選件002）
二次諧波：在+8dBm處為<-15dBc
三次諧波：在+8dBm處為<-30dBc
諧波測量精度（在25℃±5℃時）：
16MHz ~ 3GHz: ±1dB
3GHz ~ 6GHz: ±3dB（帶選件006）
諧波測量動態范圍： -40dBc（輸出=-10dBm，輸入<-15dBm）
群延遲特性
范圍：1/（2×zui小孔徑）
孔徑（可以選擇的）
zui大：頻率間隔的20% zui小：（頻率間隔）/（點數-1）
群延遲精度（單位為秒）：±（相位精度）（單位為度）/（360×孔徑（Hz））
結構特性
尺寸：425mm（寬）×222mm（高）×508mm（長）
重量：凈重34公斤
測試裝置
HP8753D選件K35雙工器測試適配器能對發射機、接收機和天線端口上的回波損耗和發射機至天線、天線至發射機、接收機至天線和天線至接收機端口的插入損耗進行一次性連接的誤差修正測量。
對于要求進行發射機至接收機和接收機至發射機測量的應用場合，建議使用選件K39三端口測試裝置。
附件
HP86205A/86207A射頻電橋
HP86205A/86207A高方向性射頻電橋在各種各樣的通用應用場合中均能提供的性能。它們特別適用于精確的反射測量和信號穩幅應用。
