簡 介
這款機型在2000年世行中標儀器的基礎上做了大量的改進工作。功能更強，使用更方便。具有恒流模式/恒高模式形貌檢測功能，隧道電流-針尖偏壓（I-V）曲線測量功能，隧道電流-間隙（I-Z）曲線測量功能和針尖修飾功能。
用戶還能根據對教學/科研不同的要求，選擇3μm-100μm不同范圍的掃描器，以及高分辨CCD觀測系統和高精度樣品X-Y移動平臺，使操作更加方便、精確。
同我們所有MicroNano 系列產品一樣，這款機型還可以根據用戶需要，選購相應的功能模塊，將功能擴展至原子力顯微鏡模式、磁力顯微鏡模式。
技 術 指 標
¨掃描模式：STM恒流/恒高模式掃描；隧道電流-針尖偏壓（I-V）曲線測量；隧道電流-間隙（I-Z）曲線測量；針尖修飾（脈沖）
¨樣品尺寸：≤Φ10mm
¨樣品厚度：≤5mm
¨掃描范圍：標準配置6μm×6μm
¨分辨率：X-Y向0.1nm；Z向0.01nm
¨XYZ控制：雙12-bit D/A（相當于20位精度）
¨數據采樣：雙12-bit A/D （相當于20位精度）
¨zui大掃描速率：20000 P/S
¨掃描角度：0~360°
¨圖像采樣點：256×256 / 512×512
¨馬達控制：線動螺紋+自動馬達，行程〈10mm，精度〈0.1μm
¨計算機接口：標準并行口
¨配套功能強大的MicroNano SPM 2.1軟件系統
可 選 配 件 及功 能 模 塊
¨3μm×3μm，20μm×20μm，50μm×50μm，100μm×100μm規格掃描器
¨高分辨CCD觀測系統
¨高精度樣品X-Y移動平臺
¨MicroNano AFM-II型原子力顯微鏡功能模塊
¨MicroNano AFM-III型輕敲模式原子力顯微鏡功能模塊
¨MicroNano MFM-I型磁力顯微鏡功能模塊
