我公司科研人員經過連續技術攻關, 在原有YB6500半導體分立器件自動測試系統基礎上, 自行研發出*臺igbt測試儀，圓滿解決了功率IGBT等新型半導體器件的全參數測試難題,*了國內在半導體自動測試領域的空白，該項產品綜合技術指標達到水平。目前我公司提供的該項新產品采用模塊式功放結構, 主極電流400A/500A/1000A/1250A可選, 2500A/5000A選項可以根據用戶需要定制。
該產品可測試IGBT參數包括了ICES, BVCES, IGESF, IGESR, VGETH, VGEON, VCESAT, ICON,VF, GFS,rCE等全直流參數, 所有小電流指標保證1%重復測試精度, 大電流指標保證0.5%以內重復測試精度, 達到目前國外進口同類產品水平。
絕緣柵晶體管、IGBT測試儀參數及精度
| 電參數名稱 | 電壓范圍 | 電流范圍 | 分辨率 | 精度 |
| ICES IGESF IGESR | 0.10V- 2000V 0.10V - 20V（80V）（2） | 100nA（100pA）（1） - 50mA 100nA（100pA）（1）- 3A | 1nA（50pA）（1） | 1%+10nA+20pA/V （1%+200pA+2pA/V）（1） |
| BVCES | 0.1V-1000V- 1400V - 1600V | 100μA - 200mA -100mA -50mA | 5mV | 1%＋100mV |
| VGETH | 0.10V- 20.0V（80V）（2） | 100nA- 3A | 5mV | 1%+10mV |
| VCESAT ICON VGEON VF GFS（混合參數） | VCE: 0.10V- 5.00V - 9.99V VGE、VF: 0.10V - 9.99V | IC: 10μA-1250A - 1250A IGE、IF: 100nA - 10A | 5mV | V: 1%+10mV IC,IF: 1%+100nA IGE: 1%+5nA |
（1） 需要YB550選件
（2） 需要柵極80V選件
該IGBT測試儀可針對目前封裝的多單元IGBT特征, 根據用戶需要提供4/ 8/ 20單元掃描測試適配器, 從而實現多單元封裝器件的一次性全參數測試.與進口測試系統相比, 該產品可同時對各種功率的其它10-18多類半導體分立器件進行全參數測試, 具有更高的使用效率。與國外同類產品相比, 該產品具有更高的性能價格比和國外廠家不能做到的優質售后服務。
主要特征簡述：
★YB半導體分立器件測試儀是我公司從國外引進的國產化項目。該分立器件測試儀目前已通過國內兩家計量站的綜合檢測認定。經過與國內其他分立器件測試系統對比使用，YB測試系統在系統硬件的可靠性、穩定性、功率范圍、測試范圍、系統測試精度、測試參數的*性等多項指標已遠遠超過國內產品。 YB測試系統目前是國內的半導體分立器件測試儀器。
★作為精密儀器引進項目，YB半導體分立器件測試儀系統嚴格按照國軍標產品之標準，全部選用優質可靠的元器件。系統嚴格按照軍用整機檢驗標準進行測試檢驗，確保系統的穩定性和可靠性。YB半導體分立器件測試儀所使用的各種繼電器，全部采用國外公司生產的水銀繼電器，從而大大提高了誼邦系統的測試速度，提高了系統的使用壽命。
★服務周到是我公司的優勢之一。選用YB半導體測試系統，享受YB電子服務，我們的服務可以在一小時內答復解決方案，到達用戶現場當天解決系統出現的所有問題。
★阻型負載：機內設有不同阻值的電阻負載供選擇。
★電流型負載：機內設有不同檔位的恒流源負載供選擇。
★用戶可以按照參數要求，自己設定參數自動分檔功能，以便把不同參數的器件自動加以區分、配對提高器件使用價值。
★高速參數測試和存儲功能，參數分析能力。平均每參數測試時間只有1毫秒。
★在線系統故障判斷修復能力，便于用戶應急處理排除故障。
★YB分立器件測試儀在實際操作中，可真實達到電壓2000V、電流50A的測試條件。在極限值條件下測試，系統同樣保持高精度和良好的重復性、穩定性。此項指標遠遠于國內其他產品。
★本分立器件測試系統測試原理和方法符合國家相關規范和標準。
★大功率器件測試采用脈沖法測試，脈沖寬度為規定的300uS。
★YB半導體測試系統硬件設計*，升級能力強。為用戶今后做測試系統升級提供了有力的技術保障。YB元器件測試系統硬件支持電壓升級到5000V，電流升級到1250A。
★系統采用*的嵌入式計算機結構，可以實現脫機測試功能。提高了系統的可靠性和使用靈活性。
★YB分立器件測試系統和YB半導體測試夾具全部采用多級開爾文技術，采用無電纜連接設計結構，保證測試結果準確可靠。各種元器件測試夾具均由高級器件插座和高級插頭采用開爾文技術連接裝配，不僅確保長壽命工作，可靠性*，*使用壽命在5X106次以上。使測試數據更加準確無誤。
★YB半導體測試系統具有被測器件引腿接觸自動判斷功能。遇到器件接觸不良時系統自動停止對被測器件測試，可確保被測器件不受損壞。
★真正的動態跨導測試。（國內其他元器件測試系統采用直流方法測動態跨導，測試結果與器件實際值偏差很大）。
★二極管極性自動判別測試功能，不需人工判別極性測試，方便操作。
★具有單參數測試延時編程功能，用戶可根據不同器件要求選擇延遲時間，增強參數測試穩定性。
★豐富的WINDOWS界面菜單編程和控制能力，方便的用戶信息文件、統計文件方式，可以給出批次測試失效數量、合格數量，按實測指標分類器件數量。測試結果可以給出excel等多種形式。
★96個程序步，99種分類。
★混合參數編程方式（參數測試編程不受器件類別限制），可以對同一器件選用不同類別器件的參數進行編程，大大的擴展系統測試能力，對被測器件進行測試和分析，軟件使用方便靈活。自動/固定量程測試功能，選用自動量程時，系統根據實測范圍自動調整以達到zui高測試精度。內部設有可選擇的電流型負載和阻型負載。
★自檢、自校準功能。系統提供自檢測試程序和夾具。系統故障自動判別到器件級。自校準功能可將系統誤差存入內置計算機，不需人工校準即可實現精確測試。
★錯誤信息提示和在線幫助，面板顯示被測器件不合格參數和單步實測參數值。在線幫助是在線提示用戶如何簡便使用該測試系統。
★測試結果計算功能，系統可以將任意測試程序步的測試結果進行計算，形成新的測試結果，方便用戶進行分析，解決、擴展特殊參數的測試可以將測試程序中任意步的測試結果進行計算，形成新的測試結果，方便用戶對器件進行分析。
★YB半導體測試系統單步測試功能，用于對單個參數進行測試，同時將測試結果值在前面板上顯示，方便用戶分析。
★YB半導體測試系統測試結果分檔功能：用戶可以按照參數要求，設定參數自動分檔功能，系統把不同參數的器件自動加以區分、配對，提高器件使用價值。
★YB半導體分立測試系統機械手、探針臺、多終端、可選掃描、多路陣列擴展測試能力。
★YB元器件測試系統可進行實時運算，允許測試結果比較與數值計算。
★功率源選用久經驗證的電源線路，結合航天電源設計經驗，在此基礎上形成具有自主產權的功率源發明技術。
★YB半導體測試系統設計綜合美國、日本多種*結構技術。
★承諾確保系統使用壽命可以達到十年以上，系統功能正常，參數指標符合出廠標準。
上述只列出該系統的部分常用特征。其它多種綜合處理能力在使用中可以不斷開發擴大。可根據用戶測試使用的要求，方便地選通其他特征。
