X-Strata980結合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態探測器確保的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率*，能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產品滿足環保要求，幫助企業降低高昂的產品召回成本和法令執行成本。您可以針對您的應用選擇zui合適的分析模型：經驗系數法、基本參數法或兩者結合。這款儀器能對電子產品上的關鍵組裝區域進行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區域，即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規則的樣品，大艙門使樣品更易放入。
100瓦X射線管 25mm2PIN 探測器 多準直器配置 掃描分析及元素分布成像功能 靈活運用多種分析模型 清晰顯示樣品合格/不合格 超大樣品艙 同時分析元素含量和鍍層厚度
X-Strata980可測試元素的含量或鍍層的厚度，可分析的元素范圍從原子序數16位（S）至92位（U）；進行元素成分分析時，儀器可同步分析25種不同元素的含量。可同時分析5種鍍層（基材及4種鍍層）/15種元素/含常州規元素的修正功能。由ISO3497 ASTM B568和DIN50987所認證的進行鍍層厚度測試的方法。
