- 創新的ZDT™“無損計數”校正，包括與ZDT譜相關的不確定性
- 使用低頻噪聲抑制器（LFR）技術提高譜質量
- 自動化 - 通過集成的換樣器接口控件提高實驗室工作效率
- 易于設置的功能包括自動極零、自動基線恢復和“優化”功能
- 前面板顯示探測器狀態和“健康狀況”信息 - SMART-1™智能HPGe支持
- 安裝簡單，真正的USB即插即用
- 出色的溫度和計數率穩定性
- 每個功能都可由計算機控制
- 支持HPGe和NaI輻射探測器
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DSPEC JR 2.0宣傳冊
- DSPEC JR 2.0宣傳冊（A4）
- DSPEC JR 2.0手冊
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零死時間（ZDT） - 無損計數校正
計數率變化太快？需要計算不確定性？ZDT是您的！ZDT是傳統活時間擴展的替代方案，可以校正死時間。它尤其適用于計數率在采集期間顯著衰減的應用（如中子活化分析），或者在長時間采集過程中活度激增的應用（如堆棧監測中的熱粒子情況）。
活時間時鐘可延長電子設備的計數時間，以補償死時間。無損計數方法，如我們的ZDT，在系統處理其他脈沖時校正那些計數“丟失”譜中的實際計數數量。ZDT方法使用ORTEC高度精確的Gedcke-Hale時鐘來確定在電子設備“死”時間內應添加多少事件。
在ZDT模式下，DSPEC jr 2.0自動存儲校正后的譜和方差譜。這兩種譜也可存儲在ORTEC SPC格式的文件結構中，以便在將來進行比較。用戶可以通過GammaVision和MAESTRO中的簡單菜單命令輕松切換校正和未校正的譜。
ORTEC ZDT模式包括不確定性的估計算法，進一步完善了我們的ZDT方法。其他“無損計數”方法無法計算與計數（被添加到譜的這部分）相關的不確定性，而DSPEC jr 2.0中的ZDT模式可以同時生成校正后的譜和收集數據時的不確定性。有關ZDT的更多信息，請參見應用說明56，“使用ORTEC的創新零死時間技術進行不確定性分析的無損計數”。
低頻噪聲抑制器數字濾波器可提高機械冷卻系統的分辨率！
LFR旨在消除高純鍺探測器輸出信號中的顫噪噪聲。您期待什么樣的結果？如果您機械冷卻系統的分辨率較低，LFR可以顯著提高其分辨率。彈道虧損校正
使用ORTEC的數字信號處理DSPEC產品系列，無需擔心彈道虧損問題。在較大的HPGe探測器中，有時會出現所謂的彈道虧損效應。這通常會導致較差的分辨率，對于高能量峰值尤為嚴重。在模擬系統中，彈道虧損通常使用門控積分放大器或通過分辨率增強器模塊進行校正。然而，在數字系統中，只需對數字濾波器的平頂寬度進行簡單調整即可。使用DSPEC jr 2.0中的InSight模式，操作員可以調整平頂寬度（和傾斜度），并立即看到信號處理的效果。在大多數情況下，對于非常大的探測器（例如本例中使用的效率為207％的探測器！），0.8 μs的平頂設置足以恢復出色的分辨率。
簡單的整形參數設置
DSPEC jr 2.0可幫助您保持對數字系統的控制。上升時間和平頂寬度調整功能使您能夠根據應用“微調”譜儀的性能。優化分辨率和處理量從未如此簡單！在DSPEC jr 2.0中，除了傾斜參數外，還有112個上升時間（從0.8到23 μs，以0.2為增量）和22個平頂寬度（從0.3到2.4 μs，以0.1為增量），可為您提供超過2,000種參數組合。
盡請放心。.. 我們仍然在控制面板中提供自動“優化”功能，以便您選擇最合適的參數！這意味著只需輕點鼠標即可改善探測器的分辨率和處理量。
SMART-1™支持質量數據
ORTEC的SMART-1探測器非常智能。它們監測和存儲探測器的“健康狀態”（探測器溫度、前置放大器功率、偏壓超量程、偏壓開/關狀態）。DSPEC jr 2.0的單次檢查將驗證探測器是否準備就緒以及準備好進行采集。在采集過程中，SMART-1探測器持續監測“健康狀態”（SOH），以確保采集數據的完整性。在采集結束時，將快速檢查SMART-1探測器中的SOH標記，然后顯示測量期間是否有任何參數偏離規范。這對于需要進行長時間計數的環境樣品和需要數據完整性的監管樣品來說至關重要。另一大優勢是SMART-1探測器在出廠時已預設推薦的偏壓值。您不再需要查看手冊或探測器上的標簽以設置正確的偏壓值。只要打開DSPEC jr 2.0，SMART-1探測器會自動檢測探測器溫度，確定正確的高壓偏壓并將其打開。
與探測器的便捷單根電纜連接
DSPEC jr 2.0使用的ORTEC DIM（探測器接口模塊），僅用一根電纜連接DSPEC jr 2.0和探測器。DIM提供接近探測器的偏壓，以便在電纜中僅承載信號和低壓電源。由于長電纜承載高電壓可能造成的危險現已被消除。顯示重要參數
DSPEC jr 2.0在前面板LCD顯示屏上顯示重要的系統參數。DSPEC jr 2.0將顯示儀器ID、名稱、序列號、預設計數條件、當前活時間和實時間、死時間百分比、輸入計數率、HV狀態和值，以及SMART-1探測器的序列號。小巧
DSPEC jr 2.0的占地面積與臺歷相當，可以直接放在桌面上。輕巧又結實的多個DSPEC jr 2.0可以疊放在一起，它們的外殼互鎖，不用擔心滑動或傾斜。與現有的MCB隨意組合
ORTEC CONNECTIONS軟件支持連接到任何計算機上的任何組合和數量的USB設備。例如，兩個digiDART可以使用USB集線器與兩個DSPEC jr 2.0一起連接到同一臺PC。任何數量的其他ORTEC MCB都可以通過網絡、打印機端口、RS-232或雙端口內存連接到同一系統。添加換樣器
如果您準備使用集成的換樣器自動化您的流程，DSPEC jr 2.0由于具有內置的換樣器接口和控件可滿足您這一需求。...還是像往常一樣容易設置！
DSPEC儀器易于設置和使用。采用智能MCA控制，無需手動配置，甚至不需要所謂的向導。您只需安裝軟件（如GammaVision或MAESTRO），軟件“知道”所需顯示的控制面板。面板的表格式設計對DSPEC jr 2.0上的可用控件和功能進行了邏輯分組。DSPEC jr 2.0包括ORTEC的數字自動極零電路、數字自動基線恢復和優化功能，可為當前連接到DSPEC jr 2.0的探測器選擇平頂/傾斜設置，從而使譜測量系統的設置和優化變得異常簡單。
當然，我們產品創新性的一個特點是InSight™，即內置虛擬數字示波器。使用InSight功能，您可以輕松查看更改平頂寬度、基線恢復設置的效果或檢查彈道虧損校正的效果（請參閱側欄）。不再需要一個沉重和麻煩的外部示波器。不需要特殊的軟件。只需打開控制面板并打開InSight模式即可。
規格 +
顯示
240 x 160像素背光LCD提供狀態信息、儀器ID、偏壓信息、活時間和實時間。
并發連接數
受計算機和支持USB集線器的限制。每臺計算機上的ORTEC CONNECTIONS軟件最多支持127個通過USB連接的設備。
系統增益設置
• 粗調增益：1、2、4、8、16或32。
•微調增益：0.45到1。
•可用的增益設置范圍支持所有類型的HPGe探測器。具體而言，使用標準ORTEC前置放大器（增益到最小增益）可實現以下能量值：COAX
187 keV至12 MeV
LO-AX
94 keV至6 MeV
GLP/SLP
16.5 keV至1 MeV
IGLET-X
8 keV至500 keV
前置放大器
計算機可選擇作為電阻或TRP前置放大器。
系統轉換增益
系統轉換增益可由軟件在512到16k通道之間進行控制。
數字濾波器整形時間常數
•上升時間：0.8 μs至23 μs，步長為0.2 μs。
• 平頂：0.3至2.4，步長為0.1 μs。死時間校正
根據Gedcke-Hale方法進行擴展的活時間校正。
精度
參考區域峰值在每秒0到50,000的計數范圍內變化<±3%。
低頻噪聲抑制器
設置為ON時，將消除譜中的低頻（<3 kHz）輸入噪聲。
線性
•積分非線性：用混合源（55Fe @ 5.9keV至88Y @ 1836keV）測量，在譜的前99.5％<±0.025％。
•微分非線性：在范圍的前99％<±1％（使用BNC脈沖發生器和斜坡發生器測量）。
•數字穩譜器：通過計算機控制，穩定增益和。系統溫度系數
•增益：<50 ppm/°C。[通常<30 ppm/°C。]
•偏移：<滿量程的3 ppm/°C，上升和下降時間為12 μs，平頂為1 μs。（類似于模擬6 μs整形。）系統處理量
LFR關閉時>100,000 cps。LFR開啟時>34,000 cps。取決于整形參數。
脈沖堆積判棄器
自動設置閾值。
脈沖對分辨率
通常<500 ns。
自動極零調整
由計算機控制。可以自動或手動設置。通過InSight示波器模式進行遠程診斷。（）。
數字門控基線恢復器
由計算機控制的恢復率調整（高、低和自動）。（）。
LLD
在通道中設置數字低電平甄別器。LLD設置以下的通道中的數據硬截斷。
ULD
在通道中設置數字高電平甄別器。ULD設置以上的通道中的數據硬截斷。
計數率表
MCA和/或PC屏幕上顯示計數率。
電池
內置電池用于內存備份，可在電源中斷時保存設置。
輸入端和輸出端探測器
多針連接器（13W3），具有以下功能：
•前置放大器功率：1 W（+12 V，-12 V，+24 V，-24 V，2 GND）。
•Amp In：正常放大器輸入。
•TRP抑制。
•SMART-1或DIM的電源。
•HV和SMART-1探測器的控件（2線）。USB
用于PC通信的通用串行總線。
電源
直流電源供電。+12 V DC, <1.25 A. 115 V/60 Hz, 220 V/50 Hz。
電氣和機械
換樣信號輸出端
后面板BNC連接器，與TTL兼容。
換樣就緒輸入端
后面板BNC連接器，接受來自換樣器的TTL電平信號。軟件可選擇極性。
尺寸
8.1高 x 20.3寬 x 24.9深厘米（3.2高 x 8寬 x 9.8深英寸）
重量
1.0千克（2.2磅）
工作溫度范圍
0至50°C，包括LCD顯示屏。
輻射探測器高壓電源SMART-1
HV模塊與輻射探測器本身為一體式結構。
非SMART-1
對于“傳統”或“非SMART-1”探測器，HV電源采用探測器接口模塊或帶2米電纜的“DIM”形式。DIM有一個用于傳統探測器電纜套件的配套連接器：9針D型前置放大器電源線、模擬輸入、關閉輸入、偏壓輸出和禁止輸入。
非SMART-1探測器的DIMS可配備以下高壓選項：
•DIM-POSGE：用于任何非SMART-1正偏壓HPGe探測器的探測器接口模塊。
•DIM-NEGGE：用于任何非SMART-1負偏壓HPGe探測器的探測器接口模塊。
•DIM-POSNAI：用于任何正偏壓NaI探測器的探測器接口模塊。
•DIM-296：帶有296型ScintiPack管座/前置放大器/偏壓電源的探測器接口模塊，用于帶有14針10級光電倍增管的NaI探測器。前面板顯示屏
在所有情況下，偏置電壓和關閉極性都從計算機上進行設置。DSPEC jr 2.0可以監控輸出電壓和關閉狀態；探測器高壓值（只讀）；和探測器高壓狀態（開/關）（讀/寫），這些都顯示在前面板LCD上。此外，SMART-1探測器通過監控以下功能提供額外的“健康狀態”信息：探測器溫度（只讀）；探測器過載狀態；探測器驗證碼（讀/寫）；和探測器序列號（只讀）。
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型號
描述
DSPEC jr 2.0
帶MAESTRO軟件、無DIM的DSPEC jr 2.0，用于配備有SMART-1的探測器。
DSPEC jr 2.0-POSGE
帶MAESTRO軟件和DIM-POSGE的DSPEC jr 2.0，用于非SMART-1探測器。
DSPEC jr 2.0-NEGGE
帶MAESTRO軟件和DIM-NEGGE的DSPEC jr 2.0，用于非SMART-1探測器。
DSPEC jr 2.0-POSNA
帶MAESTRO軟件和DIM-POSNAI的DSPEC jr 2.0，用于NaI探測器。
DSPEC jr 2.0-296
帶MAESTRO軟件和DIM-296的DSPEC jr 2.0，用于NaI探測器。
其他DIM
DIM-POSGE
用于任何非SMART正偏壓HPGe探測器的探測器接口模塊
DIM-NEGGE
用于任何非SMART負偏壓HPGe探測器的探測器接口模塊
DIM-POSNAI
用于任何正偏壓NaI探測器的探測器接口模塊
DIM-296
帶有296型ScintiPack管座/前置放大器/偏壓電源的探測器接口模塊，用于帶有14針10級光電倍增管的NaI探測器。
