ORTEC 早在1970s 就開(kāi)始N型高純鍺的制造領(lǐng)域，并且在1990s使用4個(gè)N型晶體的高純鍺制造出了TETRAD探測(cè)器。ORTEC TETRAD 探測(cè)器可以在廣泛的能量范圍內(nèi)、有限的空間內(nèi)提供的效率。如今ORTEC繼續(xù)保持了在N型高純鍺探測(cè)器制作工藝上的地位，并且提供了標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)的TETRAD探測(cè)器，旨在為核物理應(yīng)用提供更好的產(chǎn)品。- 在有限空間內(nèi)提供的計(jì)數(shù)效率
- 成型時(shí)間短，能量分辨率優(yōu)秀
- 良好的抗中子和質(zhì)子損傷能力
- 全方向配置 — 允許探測(cè)器在各種方向安裝
- 4個(gè)獨(dú)立的前置放大器，可以獨(dú)立進(jìn)行高壓控制
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TETRAD配置指南
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ORTEC 早在1970s 就開(kāi)始N型高純鍺的制造領(lǐng)域，并且在1990s使用4個(gè)N型晶體的高純鍺制造出了TETRAD探測(cè)器。ORTEC TETRAD 探測(cè)器可以在廣泛的能量范圍內(nèi)、有限的空間內(nèi)提供的效率。如今ORTEC繼續(xù)保持了在N型高純鍺探測(cè)器制作工藝上的地位，并且提供了標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)的TETRAD探測(cè)器，旨在為核物理應(yīng)用提供更好的產(chǎn)品。
獨(dú)立的離散探測(cè)器晶體通過(guò)切掉邊緣來(lái)實(shí)現(xiàn)更緊密的封裝以及更小的空間
指標(biāo) 優(yōu)勢(shì) • 前表面和側(cè)面使用薄的接觸極 (可探測(cè)到能量范圍20 keV–10 MeV的伽馬射線 ) ，探測(cè)器之間位置緊密 (間距約1.5 mm) 可最小化死層。 • 在有限空間內(nèi)計(jì)數(shù)效率
• 允許“加回”模式• 使用同軸幾何形狀的N型晶體 • 成型時(shí)間短，能量分辨率高
• 優(yōu)秀的峰識(shí)別能力和良好的信噪比• N型高純鍺材料 • 良好的抗中子、質(zhì)子能力
• 良好的退火能力，如發(fā)生損傷可恢復(fù)性能• 5升杜瓦罐( 液氮保持時(shí)間可達(dá)12 小時(shí)) • 全方向 — 允許探測(cè)器安裝在任意方位 • 堅(jiān)固可靠的設(shè)計(jì) • 探測(cè)器的性能和壽命更加可靠 • 真空完整性與常規(guī)探測(cè)器近似
• 安裝簡(jiǎn)單• 可獨(dú)立控制的4個(gè)前放 • 允許對(duì)每個(gè)探測(cè)器單獨(dú)優(yōu)化并且提高系統(tǒng)整體的性能
每個(gè)高純鍺探測(cè)器的晶體均使用同軸幾何結(jié)構(gòu)，鍺晶體的兩邊是90度角，其余縱向面與兩邊由弧形連接。四個(gè)探測(cè)器緊密的封裝在一起形成一個(gè)“四葉草形狀”，并且安裝在一個(gè)端蓋內(nèi)。冷指通過(guò)5L的杜瓦罐液氮對(duì)其制冷，制冷維持時(shí)間約12小時(shí)。
ORTEC TETRAD 探測(cè)器使用的N型高純鍺晶體主要提供2個(gè)優(yōu)點(diǎn)。首先，N型材料降低了核物理實(shí)驗(yàn)中常見(jiàn)的中子和質(zhì)子對(duì)探測(cè)器的損傷；其次，光子在晶體內(nèi)耗盡能量之前可能會(huì)經(jīng)過(guò)多次散射。根據(jù)能量的不同，光子的能量可能在一個(gè)探測(cè)器內(nèi)沉積一部分，然后散射到其它探測(cè)器中，沉積剩余的能量。為了測(cè)量這部分能量并且保證峰的能量收集，ORTEC的N型探測(cè)器的外表面使用的很薄的接觸極，限度的提高入射或者散射光子，尤其是低能光子的通過(guò)效率。
四個(gè)探測(cè)器可以獨(dú)立收集能量信息，并且通過(guò)“加回”算法處理散射光子的問(wèn)題。“加回”算法可以使得TETRAD 探測(cè)器的系統(tǒng)總效率遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于四個(gè)獨(dú)立晶體的總和。
此外，四個(gè)較小的晶體和獨(dú)立的前置放大器與更大的探測(cè)器相比，系統(tǒng)的計(jì)數(shù)率更高且分辨率更好。
典型應(yīng)用
科研機(jī)構(gòu)/大學(xué)
ORTEC TETRAD 探測(cè)器廣泛應(yīng)用于核物理研究，尤其是在受限制的空間內(nèi)需要的能量分辨率和相對(duì)效率的應(yīng)用場(chǎng)景。ORTEC TETRAD探測(cè)器的兩個(gè)典型應(yīng)用:
- 核反應(yīng)截面測(cè)量和核結(jié)構(gòu)分析相關(guān)的束流實(shí)驗(yàn)
- 輻照材料的裂變產(chǎn)物分析 (分支比)
性能
具體參數(shù)見(jiàn)產(chǎn)品彩頁(yè)。保證值均由ORTEC模擬或者數(shù)字化電子學(xué)測(cè)量得到。
ORTEC TETRAD 探測(cè)器堅(jiān)固耐用，使用壽命很長(zhǎng)。目前 TETRAD 的設(shè)計(jì)進(jìn)一步提升了售后維護(hù)的便捷性，允許在現(xiàn)場(chǎng)解決一些簡(jiǎn)單的技術(shù)問(wèn)題，省去了返廠維修的復(fù)雜步驟。此外，TETRAD 探測(cè)器中的高純鍺晶體可以獨(dú)立拆卸維護(hù)，不需要對(duì)整體組件進(jìn)行拆卸。訂購(gòu)信息 +
型號(hào) 描述 TETRAD-20 20% N-型探測(cè)器系統(tǒng)。 包含4個(gè)相對(duì)效率20%的 N-型探測(cè)器和5.0升全方向杜瓦罐
