X射線熒光分析法的原理·特點

圖為用波爾模型說明電子軌道和熒光X射線產生的原理

X射線熒光的產生原理

X射線管發出X射線照射樣品，樣品中所含的原子則向外發射原子的X射線。這種X射線被稱為熒光X射線，各元素具有特定的波長（能量）。因此，通過檢測X射線的波長就能夠進行定性分析。另外，熒光X射線的強度與濃度具有函數關系，檢測每個元素X射線特征波長的X射線量就能進行定量分析。

滿足所有領域不同的應用

■ 電子·電氣
·RoHS指令、無鹵素等篩選分析
·半導體、存儲裝置、液晶、太陽能電池等各種薄膜分析

■ 汽車·機械
· 應對ELV指令的篩選分析
· 各種機械零部件結構分析及鍍層厚度、化學合成外膜附著量的檢測

■ 鋼鐵·非金屬
· 原材料、合金、焊錫、貴金屬的主要成分、殘余成分的分析
· 爐渣的組成分析

■ 礦業
· 選礦工藝的成色鑒別分析

■ 窯業
· 陶瓷、水泥、玻璃、磚、粘土的分析

■ 石油·石油化學
· 油中硫元素的分析
· 潤滑油中各種添加元素及混入元素的分析

■ 化學工業
·無機·有機原料和產品分析
·催化劑、顏料、涂料、橡膠、塑膠的分析

■ 環境
· 土壤、排水、焚燒灰、過濾、PM2.5等成分分析

■ 醫藥
· 合成時的殘留催化劑分析
· 原藥中不純物分析、異物分析

■ 農業·食品
· 土壤、肥料、植物的分析
· 食品的原料分析、添加元素管理、混入異物的分析

■ 其它
· 考古學樣品及寶石成分分析
玩具·日用品中有害重金屬元素測定等

有設計感的外觀

460mm寬的緊湊身材，配備大容量的樣品室

460mm寬的緊湊身材，與我公司以往機型相比尺寸減少20%。
而緊湊的機身，卻擁有zui大可放置200（W）×275（D）×約100（H）mm樣品的大型樣品室。

識別度高的LED顯示燈

產生X射線時，分析儀器后面的X射線顯示燈和前面的X-RAYS ON顯示燈將會點亮。分析時X射線顯示燈的兩側亮起藍燈。操作人員不在分析現場也可對分析儀器的狀態一目了然。

“初次見面”也可輕松上手的軟件PCEDX Navi

為了使X射線熒光分析貼近每一個實驗室，深入淺出的軟件PCEDX Navi應運而生。

憑直覺操作的淺顯簡單畫面，使從初學者到專家的每一位用戶都可以體驗到便捷的操作環境。

簡潔的界面
在一個界面內可以同時顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱。

在測定界面上可以直接切換準直器
可以一邊觀察樣品圖像，一邊切換準直器直徑。
同時，選定的直徑用黃色圓圈表示。

自動保存樣品圖像
測定開始時自動讀取樣品圖像，與數據文件夾關聯保存。

測定結束后，與樣品畫面一起，元素名、濃度、3δ（測定的標準偏差）均會在同一界面清楚顯示。輕松點擊鼠標，即可看到《分析結果一覽》或《報告》。

使用轉臺時的測定準備畫面（樣品位置確認時）

同樣適用于連續分析

PCEDX Navi同樣可應對使用轉臺（選購件）的分析。
可以輕松切換樣品圖像確認界面和樣品位置確認界面。

分析性能

采用高性能的SDD檢測器，確保硬件化，具有高靈敏度·高速分析和高分辨率。可以檢測出6C～的機型正式上線（EDX-8000/8100）。

高靈敏度 –提高檢測下限1.5～5倍-

高性能的SDD檢測器與化的光學系統和一次濾光片的組合，實現高靈敏度。
從輕元素到重元素，全范圍輕松應對。與采用傳統Si（Li）半導體檢測器的分析裝置相比，靈敏度也更勝。

高速 –分析速度zui大可提高10倍-

SDD檢測器在單位時間內X射線熒光的計數率高，因此能夠在更短的檢測時間內進行高精度分析。特別是對金屬材料的分析，這個特點可以得到zui大限度的發揮。

測定時間與標準偏差（定量值偏差）的關系

X射線熒光分析可以通過延長測定時間增加X射線熒光的計數從而提高精度（重現性）。
搭載高計數率SDD檢測器的EDX-7000/8000/8100與以往型號相比，能夠在更短的時間內保證分析精度。

滿足分析精度所需的檢測時間

高分辨率

與配置以往Si（Li）半導體檢測器的型號相比，能量分辨率更勝。
不同元素峰值重疊的影響減小，提升可靠性。

能量分辨率的比較（樣品：PPS樹脂）

無需液氮

SDD檢測器為電子制冷方式，無需液氮冷卻。不僅可以從繁瑣的液氮補充作業中解放出來，更可以降低儀器的維護成本。

檢測元素范圍

· 用EDX-7000/8100進行15P以下的輕元素分析時，需要真空檢測單元或者氦氣置換檢測單元（均為選購件）。
· 用EDX-8000進行15P以下的輕元素分析時，需要真空檢測單元（選購件）。

EDX-8000/8100進行超輕元素分析

EDX-8000/8100搭載的SDD檢測器窗口采用極薄的薄膜特殊材料，能夠檢測碳（C）、氧（O）、氟（F）超輕元素。

用EDX-8100檢測氟元素的分析結果