場發射透射電子顯微鏡-TEM
廠家：日本電子株式會社
型號：JEM-2100F
技術參數：
1.加速電壓：200KV；信息分辨率：0.14nm； 點分辨率： 0.20nm；STEM分辨率：0.2nm；
2.樣品傾角：+/-40o；放大倍數：60-1000000；電子槍：Schottly 場發射電子槍。
3.高性能的TEM成像、STEM成像和納米分析；
4.配備英國Oxford X-MAX能譜儀 。
應用范圍：
1.應用于材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體、納米技術等領域的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀察與分析；
2.各種材料微區化學成分的定性和半定量檢測；
3.粉末、納米粒子形態和粒度測定；
4.復合材料界面特性的研究。
表征項目：
可進行TEM形貌 ，HRTEM高分辨 ，選區電子衍射SAED, STEM-HADDF暗場像 ， EDX元素定量， Mapping元素分布 ， 點掃描、 線掃描 。
樣品要求：
粉末、液體樣都行；樣品量：粉末樣≥1mg ，液體樣≥1ml 。
| 產品名稱 | 參考價 | 地區 | 公司名稱 | 更新時間 | |
|---|---|---|---|---|---|
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