手持式非金屬（金屬）涂層測厚儀YST281
可測量混凝土，木材，塑料，復合材料等基材上涂層厚度
并兼具透過涂層測厚儀及金屬涂層測厚儀所有功能
概述
手持非金屬（金屬）涂層測厚儀，帶數值顯示，A/B掃描功能。采用脈沖反射超聲波測厚原理，適用于能使超聲波以一恒定速度在其里面傳播，并能從其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂層厚度的測量。測量分辨率達0.001mm，測量范圍薄至0.02mm，可以同時測量涂層和基材的厚度。
本產品可應用于石油、化工、冶金、造船、航空航天、能源等各個領域。
符合 標準《超聲波測厚儀校準規范》 JJF 1126-2004。
主要功能
● 測量范圍寬，最小測量厚度,涂層20um，測量厚度1800mm；
● 每一層0.02mm(20um)可測，加基材測量厚度最厚可達1800mm，可以測十層復合層每一層的厚度但不限于十層(無數層)，且不限于涂層和基材的材質，任何材質均可以測量；
● 高精度測厚，測量分辨率可達0.001mm；重復分辨率可達±0.002mm；
● A-掃描模式，B-掃描模式，數值顯示模式；
● 具有穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料；
● 根據材料聲速不同可以檢測部分復合材料上的涂層和和漆層，可以同時測量10個以上的多層材料各層厚度，同一回波下切換顯示各層厚度值；
● 多種測量：THIN，MB-E，E-E，Auto模式滿足對常規厚工件測量;THIN E-E模式對薄涂層測量；
● 數值模式包括常規厚度值模式、差值/縮減率模式和最值模式；
● 增益模式：自動增益/手動增益；
● 可設置手動關機與自動關機，帶節能功能；
● 可使用多種不同規格探頭，雙晶探頭和單晶探頭，支持20Mhz高頻探頭；
● 支持大容量存儲，可同時存儲10萬個厚度值，500組A掃描波形和500組B掃描波形；
● 具有多種校準方式，支持一點校準、多點校準和手動校準模式，可以同時校準聲速和探頭零位；支持V聲程校準。
● 公英制轉換；毫米和英寸可切換單位；
● 中文和英文顯示；
適用材料
測量金屬和非金屬（玻璃，復合材料，塑料，混凝土，木材等）基材上涂層厚度
適合測量金屬（如鋼、鑄鐵、鋁、銅等）、塑料、陶瓷、玻璃、樹脂、玻璃纖維及其他超聲波的良導體的厚度。
基本原理
采用脈沖反射超聲波測厚原理，適用于能使超聲波以一恒定速度在其里面傳播，并能從其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂層厚度的測量。
規格參數
項目 | YST281 |
探頭類型 | 單晶/雙晶 |
測量范圍 | 20μm – 1800mm |
測量頻率 | 4Hz、8Hz、16Hz |
分辨率 | 0.1mm、0.01mm、0.001mm（0.01inch、0.001inch、0.0001inch） |
脈沖發生器 | 負方波發射，脈沖寬度和電壓自動與探頭進行匹配 |
聲速范圍 | 400-19999m/s |
校準試塊 | 4mm（鋼） |
自動關機 | 可選擇5分鐘，10分鐘，20分鐘，手動關機 |
探頭校準 | 一點校準、二點校準，手動校準 |
增益 | 自動增益、手動增益 |
增益范圍 | 0~80dB |
檢波方式 | 射頻RF、正半波POS、負半波NEG、全波FULL |
測量模式 | （1）THIN-EE:薄膜涂層模式（2）MB-E：發射脈沖始波至一次回波；（3）E-E：穿透涂層測量，可選任意Em– En回波；（4）THIN：薄壁測量模式 |
數值模式 | 厚度值模式、差值/縮減率模式、/最小值模式 |
A-掃描模式 | 支持 |
B-掃描模式 | 支持 |
耦合指示 | 支持 |
電量指示 | 支持 |
語言 | 中文/英文(English) |
單位 | 毫米/英寸 (mm/inch) |
菜單操作 | 支持 |
軟件功能 | 動態閘門設置、消隱設置(Blank)、回波消隱設置(E-Blank)、回波凍結、回波平移和縮放 |
存儲功能 | 同時支持10萬個厚度（100組，每組1000個），500組A掃描波形和500組B掃描波形 |
主機程序升級 | 支持主機程序升級 |
顯示屏 | 3.5寸真彩色屏 |
數據傳輸 | 支持USB通信，將數據傳輸至計算機 |
工作溫度 | -10℃～＋50℃，有特殊要求可達-20℃ |
工作電壓 | 三節5號 鋰離子電池，當電量不足時，有低電壓提示 |
外形尺寸 | 184 x 85 x 32 (mm) |
整機重量 | 250 g（不含電池） |
標準配置 | 主機1臺、探頭兩個DTM15和BD510 5號鋰電池3節，充電器一個，隨機文件1套，防震防水儀器箱1個 |
產品展示
* 產品圖片以實物為準，以上參數為典型數值，參數變更恕不另行通知！
