| 一﹑設備特點: 1.采用美國原裝電致冷高性能Si-PIN探測器，分辨率高，探測范圍寬,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規材料分析的基本要求。 2. 配置國際的DPP數字多道信號集成處理器，比普通模擬多道信號處理器性能更佳，尤其在高計數率時有更好的分辨力(如Hg和Cl等)，高達80MHz的數據傳輸速度使分析時間更短，測量重復性和長期穩定性更好。 3. 內置高清攝像系統，清晰觀察樣品，準確定位樣品測試區域。 4. 配套的FP測量軟件，集成多種譜圖處理算法和基體校正算法，有效降低儀器測量中的各種干擾譜峰，使低含量和痕量元素的檢測結果 *元素分析范圍:硫（S）-鈾（U）任意元素,可分析不銹鋼、銅合金、鋅合金、錫鉛合金、貴金屬分析等。定量測試ROHS和鹵素中的 鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、鉻(Cr)、多溴聯苯（PBB）和多溴聯苯醚（PBDE）中的總溴,鹵素中的溴(Br)、氯（Cl）。可以分析最多5層鍍層，一次可分析元素多達24種 *技術參數: 檢出下限：Pb /Cd/Cr/Hg/Br/Cl≦2ppm 測試樣品時間：50－300秒可調 測試含量范圍：1ppm－99.99% 分析測量動態范圍寬，可從0.005μm到50μm 樣品形狀：任意大小，任意不規則形狀 樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體 X射線管：管電壓/0～50 kV 管電流/1～1000 μA，功率: 50 W，燈絲電壓: 2.0V，燈絲電流: 1.7 A，射線取出角：12°靶材：鎢靶，鈹窗厚度：400um，超溫超載保護，不工作時自動進入待機狀態延長使用壽命。 照射直徑：準直器8mm/2mm/1mm /0.5mm 探測器：美國Amptek Si-PIN高靈敏度探測器，分辨率：149±5eV。 美國Spellman高壓電源：輸入電壓: DC +24V±10%，輸入電流：4.25A（），輸出電壓: 0 -50KV & 1mA ，功率：50W，電壓調整率：0.01% （從空載到滿載）電流調整率：0.01% （從空載到滿載），紋波電壓：輸出額定電壓前提條件下，紋波電壓的峰值為輸出電壓的0.25%，8小時穩定性：≤0.05%。 散熱系統： 機身前后有多個散熱孔散熱，機身內有3個風扇進行風冷，X光管進行涂層高溫降熱樹脂后散熱片包裹，再有1個風扇對其吹風散熱。 防輻射系統： 軟硬結合的防輻射設計，三重處理：X光管的特殊輻射處理、樣品蓋的雙層鉛皮包裹、軟件的輻射預警（儀器工作中人員誤操作開啟樣品腔時儀器會自動全部斷電關機，保證操作人員安全），取得國家規定的輻射安全許可證，輻射劑量低于國家標準。 濾光片：八種新型濾光片自動選擇設定 樣品監測系統： 30倍1500萬像素彩色CCD攝像機，在軟件測試界面可實時觀察樣品狀態和放置樣品測試前微動調整樣品位置，樣品測試完成后圖樣清楚呈現在測試報告中。 軟件系統： 定量分析計算，運用理論Alpha系數法(NBS-GSC法) 、集成FP、法經驗系數法，針對RoHS無鹵元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr，Cl）的精準測試。多種語言操作界面，操作簡單，一鍵式設計，可生成各種人性化定制報告，能夠自動輸出PDF,EXCEL等報告格式。 額定功率：0.35kW 重量：50Kg 外形尺寸：650(W)×450(D)×450(H)mm 樣品腔尺寸：350(W)×300(D)×150(H)mm，大樣品蓋可進行開蓋敞開測試。 *標準配置 Amptek Si-PIN探測器一套： 鎢靶特殊防輻射處理側窗型X射線管一支 美國Spellman高壓電源一支 全封閉鉛板雙樣品腔 高精密CCD攝像機一個 Alpha系數法(NBS-GSC法)、集成FP、法經驗系數法軟件一套 樣品盒一個，測試用樣品杯1個，測試用塑膠薄膜一卷 歐盟PE#標樣一片、銀校正標樣一片 儀器用電腦一套、打印機一臺 |
