四探針直流低電阻測試儀 （產(chǎn)品型號：FP-001）
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本測試儀由珠海凱為光電科技有限公司配套設(shè)計，測試儀采用國內(nèi)高精度的直流低電阻測試儀及四探針頭生產(chǎn)廠商的四探針技術(shù)。適合實驗室用于ITO導(dǎo)電玻璃、FTO導(dǎo)電玻璃、AZO導(dǎo)電玻璃、柔性ITO導(dǎo)電膜、片狀金屬等膜層均勻的剛性導(dǎo)體膜層和半導(dǎo)體膜層的方塊電阻、電阻率的測試使用 (注：本產(chǎn)品使用小探針頭，不適合導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片的測試，需要用來測試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、碳漿膜等材料的阻值的，訂購前請咨詢我們)。
目前，該產(chǎn)品已經(jīng)被清華大學(xué)、華南理工大學(xué)、中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)、電子科技大學(xué)、華中師范大學(xué)、武漢大學(xué)、西安交通大學(xué)、天津大學(xué)、東北大學(xué)、暨南大學(xué)等學(xué)校的相關(guān)實驗室使用，產(chǎn)品遠(yuǎn)銷澳大利亞、馬來西亞、印度、伊朗、日本等國家和地區(qū)。
測試原理
1) 方塊電阻的定義及方阻與電阻率、電導(dǎo)率的關(guān)系 >>>>>（點擊查看）
2) 方塊電阻的測試原理 >>>>>（點擊查看）
產(chǎn)品特點：
1) 電阻測試儀5個不同量程供選擇，不同量程不同測試電流，保證測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性；
2) 電阻測試儀三檔自動分選，適用同時快速檢測多個樣品的合格性能；
3) 四探針頭使用幾何尺寸十分精確的紅寶石軸套，確保探針間距的恒定、準(zhǔn)確；
4) 四探針頭控制寶石內(nèi)孔與探針之間的縫隙不大于6μm，保證探針的小游移率；
5) 四探針頭采用特制的S型懸臂式彈簧，使每根探針都具有獨立、準(zhǔn)確的壓力；
6) 四探針頭量具精度的硬質(zhì)合金探針，在寶石導(dǎo)孔內(nèi)穩(wěn)定運動，持久耐磨。
產(chǎn)品參數(shù)：
1) 儀器測量范圍：10 μΩ – 2.00 kΩ（四種不同量程測量范圍及分辨率、測試電流參見下表）
2) 分選檔數(shù)：3檔分選
3) 低電阻測試儀測試偏差：參見附表四測試結(jié)果(見產(chǎn)品操作手冊)
4) 四探針頭類型：直線四探針
5) 四探針頭探針材質(zhì)：碳化鎢
6) 四探針頭探針間距：1mm
7) 四探針頭探針間距偏差：<2 %
8) 四探針頭探針合力：4±1N
9）四探針頭探針壓痕直徑：200-400 μm
10）四探針頭探針機械游移率：<0.3 %
11）四探針頭探針與導(dǎo)孔間隙：0.006mm
12）四探針頭500V絕緣電阻：>1000 mΩ
13) 探針間距修正系數(shù)Fsp ：參見附表三標(biāo)準(zhǔn)樣片檢定探針頭測試結(jié)果(見產(chǎn)品操作手冊)
使用條件
1) 電源：220V AC，50Hz
2) 使用環(huán)境溫度：20-60 ℃
3) 使用環(huán)境濕度：≤75RH
應(yīng)用范圍
測量參數(shù)：方塊電阻、電阻率
測量樣品：均勻薄膜、均勻薄片
樣品大小：直徑>1cm
四探針直流低電阻測試儀 （產(chǎn)品型號：FP-001）
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本測試儀由珠海凱為光電科技有限公司配套設(shè)計，測試儀采用國內(nèi)高精度的直流低電阻測試儀及四探針頭生產(chǎn)廠商的四探針技術(shù)。適合實驗室用于ITO導(dǎo)電玻璃、FTO導(dǎo)電玻璃、AZO導(dǎo)電玻璃、柔性ITO導(dǎo)電膜、片狀金屬等膜層均勻的剛性導(dǎo)體膜層和半導(dǎo)體膜層的方塊電阻、電阻率的測試使用 (注：本產(chǎn)品使用小探針頭，不適合導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片的測試，需要用來測試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、碳漿膜等材料的阻值的，訂購前請咨詢我們)。
目前，該產(chǎn)品已經(jīng)被清華大學(xué)、華南理工大學(xué)、中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)、電子科技大學(xué)、華中師范大學(xué)、武漢大學(xué)、西安交通大學(xué)、天津大學(xué)、東北大學(xué)、暨南大學(xué)等學(xué)校的相關(guān)實驗室使用，產(chǎn)品遠(yuǎn)銷澳大利亞、馬來西亞、印度、伊朗、日本等國家和地區(qū)。
測試原理
1) 方塊電阻的定義及方阻與電阻率、電導(dǎo)率的關(guān)系 >>>>>（點擊查看）
2) 方塊電阻的測試原理 >>>>>（點擊查看）
產(chǎn)品特點：
1) 電阻測試儀5個不同量程供選擇，不同量程不同測試電流，保證測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性；
2) 電阻測試儀三檔自動分選，適用同時快速檢測多個樣品的合格性能；
3) 四探針頭使用幾何尺寸十分精確的紅寶石軸套，確保探針間距的恒定、準(zhǔn)確；
4) 四探針頭控制寶石內(nèi)孔與探針之間的縫隙不大于6μm，保證探針的小游移率；
5) 四探針頭采用特制的S型懸臂式彈簧，使每根探針都具有獨立、準(zhǔn)確的壓力；
6) 四探針頭量具精度的硬質(zhì)合金探針，在寶石導(dǎo)孔內(nèi)穩(wěn)定運動，持久耐磨。
產(chǎn)品參數(shù)：
1) 儀器測量范圍：10 μΩ – 2.00 kΩ（四種不同量程測量范圍及分辨率、測試電流參見下表）
2) 分選檔數(shù)：3檔分選
3) 低電阻測試儀測試偏差：參見附表四測試結(jié)果(見產(chǎn)品操作手冊)
4) 四探針頭類型：直線四探針
5) 四探針頭探針材質(zhì)：碳化鎢
6) 四探針頭探針間距：1mm
7) 四探針頭探針間距偏差：<2 %
8) 四探針頭探針合力：4±1N
9）四探針頭探針壓痕直徑：200-400 μm
10）四探針頭探針機械游移率：<0.3 %
11）四探針頭探針與導(dǎo)孔間隙：0.006mm
12）四探針頭500V絕緣電阻：>1000 mΩ
13) 探針間距修正系數(shù)Fsp ：參見附表三標(biāo)準(zhǔn)樣片檢定探針頭測試結(jié)果(見產(chǎn)品操作手冊)
使用條件
1) 電源：220V AC，50Hz
2) 使用環(huán)境溫度：20-60 ℃
3) 使用環(huán)境濕度：≤75RH
應(yīng)用范圍
測量參數(shù)：方塊電阻、電阻率
測量樣品：均勻薄膜、均勻薄片
樣品大小：直徑>1cm
