CETC(中電科)   AV6362光譜分析儀 

產(chǎn)品綜述

AV6362光譜分析儀采用世界上的雙通光柵單色儀、高分辨率直接驅(qū)動(dòng)衍射光柵、光學(xué)楔形延遲消偏振、數(shù)字濾波等技術(shù)研制而成。整機(jī)性能指標(biāo)達(dá)到國(guó)際同類產(chǎn)品水平。適用于600～1700nm波段范圍的LED、LD、SLD、DFB-LD、EDFA、光纖、光纖光柵、光學(xué)濾波器、光纖放大器、波分復(fù)用器等光電子元器件及有關(guān)系統(tǒng)的測(cè)試。

主要特點(diǎn)

● 70dB動(dòng)態(tài)范圍
● -90dBm電平測(cè)量靈敏度
● PMD測(cè)試
● WDM測(cè)試
● 測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)輸出
● 跟蹤可調(diào)諧激光源測(cè)量
● 調(diào)制光測(cè)量

●高動(dòng)態(tài)范圍
        AV6362型光譜分析儀具有高動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試模式，在此模式下，距峰值波長(zhǎng)±1nm范圍內(nèi)，動(dòng)態(tài)范圍可達(dá)70dB。

●-90dBm電平測(cè)量靈敏度
        通過低噪聲放大、雜散光抑制、數(shù)字濾波等技術(shù)，極大地降低了儀器噪聲，提高了信噪比，電平測(cè)量靈敏度在1250nm～1600nm波段優(yōu)于－90dBm。

●自動(dòng)PMD測(cè)試

●WDM測(cè)試
        WDM測(cè)量分析信噪比(SNR)，各個(gè)波峰之間的波長(zhǎng)間隔、電平差異等重要參數(shù)。最多可以檢測(cè)到300個(gè)波峰。

●測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)輸出
        光譜測(cè)試數(shù)據(jù)可用.bmp或.txt格式文件存儲(chǔ)和輸出。

●跟蹤可調(diào)諧激光源測(cè)量
        儀器可以對(duì)可調(diào)諧光源進(jìn)行跟蹤測(cè)量。跟蹤測(cè)量和可調(diào)諧光源的波長(zhǎng)輸出由光譜分析儀控制。發(fā)送波長(zhǎng)端(可調(diào)諧光源)和接收端(光譜分析儀)可以進(jìn)行同步測(cè)量。

●調(diào)制光測(cè)量
        調(diào)制光測(cè)量可用于監(jiān)測(cè)調(diào)制光。通過輸入一個(gè)與調(diào)制信號(hào)同步的外部觸發(fā)信號(hào)，可以測(cè)量調(diào)制光。

典型應(yīng)用

        LED、SLD、ASE、FP-LD、DFB-LD光譜波形分析