CETC(中電科)   AV6362光譜分析儀 

產(chǎn)品綜述

AV6362光譜分析儀采用世界上的雙通光柵單色儀、高分辨率直接驅(qū)動衍射光柵、光學(xué)楔形延遲消偏振、數(shù)字濾波等技術(shù)研制而成。整機性能指標達到國際同類產(chǎn)品水平。適用于600～1700nm波段范圍的LED、LD、SLD、DFB-LD、EDFA、光纖、光纖光柵、光學(xué)濾波器、光纖放大器、波分復(fù)用器等光電子元器件及有關(guān)系統(tǒng)的測試。

主要特點

● 70dB動態(tài)范圍
● -90dBm電平測量靈敏度
● PMD測試
● WDM測試
● 測試數(shù)據(jù)存儲輸出
● 跟蹤可調(diào)諧激光源測量
● 調(diào)制光測量

●高動態(tài)范圍
        AV6362型光譜分析儀具有高動態(tài)范圍測試模式，在此模式下，距峰值波長±1nm范圍內(nèi)，動態(tài)范圍可達70dB。

●-90dBm電平測量靈敏度
        通過低噪聲放大、雜散光抑制、數(shù)字濾波等技術(shù)，極大地降低了儀器噪聲，提高了信噪比，電平測量靈敏度在1250nm～1600nm波段優(yōu)于－90dBm。

●自動PMD測試

●WDM測試
        WDM測量分析信噪比(SNR)，各個波峰之間的波長間隔、電平差異等重要參數(shù)。最多可以檢測到300個波峰。

●測試數(shù)據(jù)存儲輸出
        光譜測試數(shù)據(jù)可用.bmp或.txt格式文件存儲和輸出。

●跟蹤可調(diào)諧激光源測量
        儀器可以對可調(diào)諧光源進行跟蹤測量。跟蹤測量和可調(diào)諧光源的波長輸出由光譜分析儀控制。發(fā)送波長端(可調(diào)諧光源)和接收端(光譜分析儀)可以進行同步測量。

●調(diào)制光測量
        調(diào)制光測量可用于監(jiān)測調(diào)制光。通過輸入一個與調(diào)制信號同步的外部觸發(fā)信號，可以測量調(diào)制光。

典型應(yīng)用

        LED、SLD、ASE、FP-LD、DFB-LD光譜波形分析