X射線熒光光譜儀的優點：
       1) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。

2) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。

3) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。

4) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。

5) 分析精密度高。目前含量測定已經達到ppm級別。

6) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。 

EDX-1800能量色散X射線熒光光譜儀主要應用于RoHS & WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測量、工業鍍層厚度測量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質和半導體以及各種合金、貴金屬成份分析.

性能優勢
       下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
        準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
        移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點
        高分辨率探測器：提高分析的準確性
        新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率
        檢測75種元素·2ppm檢出限·重復性0.05%·穩定性0.05%
        新一代光管良好的屏蔽作用，X射線的輻射水平與普通大氣環境狀態下相等
        性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率
        儀器上蓋的測試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您防護
        技術參數
        元素分析范圍：硫（S）~ 鈾（U）
        分析檢出限：2ppm
        分析含量：ppm ~ 99.99％
        任意多個可選擇的分析和識別模型
        相互獨立的基體效應校正模型
        多變量非線性回歸程序
        溫度適應范圍：15℃ ~ 30℃
        電源：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩壓電源
        能量分辨率：165±5eV
        樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
        儀器尺寸：550mm×410mm×320mm
        儀器重量：45kg