EPK測(cè)厚儀探頭價(jià)格?，德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
- 所有型號(hào)均可配所有探頭
- 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)
- 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)
可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
N兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
| 探頭 | 量程 | 低端 分辨率 | 誤差 | *小曲率 半徑(凸/凹) | *小測(cè)量 區(qū)域直徑 | *小基 體厚度 | 探頭尺寸 |
| F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%+0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
| F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm |
| F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x170mm |
| F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm |
| F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%+10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm |
| F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%+10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm |
| F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%+50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm |
| N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%+0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
| N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm |
| N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm |
| N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x170mm |
| N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%+25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm |
| N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%+50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm |
| N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%+0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm |
| CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm |
| FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F：0.5mm N：50μm | φ15x62mm |
| FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平面 | 30mm | F：0.5mm N：50μm | φ21x89mm |
| FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F：0.5mm N：50μm | φ15x62mm |
探頭圖示
 | FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | FN1.6P 0～1600μm,φ30mm兩用測(cè)頭，特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度 |
 | F05 0～500μm,φ3mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等量程低端分辨宰很高(0.1μm) |
 | F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭量程低端分辨率很高(0.1μm |
 | F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭可用于較厚的覆層 |
 | F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | F10 0～10mm,φ20mm適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 |
 | F20 0～20mm,φ40mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 |
 | F50 0～50mm,φ300mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 |
 | N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 |
 | N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較薄的絕緣覆層尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | N100 0～100mm,200mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | CN02 10～200μm,φ7mm 用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 |
?篤摯儀器（上海）有限公司主要從事物理表面檢測(cè)儀器的的銷售與服務(wù)。篤摯有著長期致力于業(yè)內(nèi)的高技術(shù)人才和高效的管理團(tuán)隊(duì)，人才是公司立足和翹楚于行業(yè)的根本保證，也是日后拓展的堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)，是公司寶貴的財(cái)富。篤摯產(chǎn)品涵蓋長度計(jì)量儀器，光學(xué)儀器、形狀類儀器，材料檢測(cè)儀器，涂裝與表面處理檢測(cè)儀器，歷來為眾多國內(nèi)外大中型企業(yè)提供過服務(wù)，并以優(yōu)良的品質(zhì)和完善的服務(wù)贏得了客戶的*，并在行業(yè)建立了穩(wěn)固的市場(chǎng)地位。篤摯引用的*技術(shù)和管理經(jīng)驗(yàn)，建全完善了管理制度，對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和售前、售后進(jìn)行嚴(yán)格的管控，持續(xù)地提高了公司的產(chǎn)品和服務(wù)質(zhì)量，贏得了顧客的信賴，使篤摯的產(chǎn)品的供應(yīng)量在國內(nèi)各大城市以及市場(chǎng)迅猛增長，并取得業(yè)界好評(píng)。
EPK測(cè)厚儀探頭價(jià)格 - MiniTest725/735/745系列可選探頭：
MiniTest725 /735/745是設(shè)計(jì)用于非破壞性涂層厚度測(cè)量，原產(chǎn)德國，品牌Elektrophysik（簡寫epk），是MiniTest720 /730/740的升級(jí)型號(hào)。MIiniTest 700系列的所有型號(hào)可以連接到不同的探頭。根據(jù)探頭類型，他們的工作原理分別為磁感應(yīng)原理或渦流原理或兩者兼具。升級(jí)款MiniTest725 /735/745系列便攜式測(cè)厚儀適用于無損、快速、準(zhǔn)確的涂層厚度測(cè)量。易于操作，是精加工行業(yè)、油漆車間、電鍍、船橋建筑、飛機(jī)制造、工程或化工行業(yè)的消費(fèi)者、專家或公共機(jī)構(gòu)的理想工具。用于測(cè)量：鐵基體上的非磁性涂層（如油漆、清漆、搪瓷、鍍鉻和鍍鋅）;或者有色金屬上（如銅，鋁，壓鑄鋅，黃銅等）的絕緣涂層（如油漆、陽極氧化膜層或陶瓷）。
可選探頭 | 探頭型號(hào): | 類型: | 測(cè)量范圍: | Uncertainty(of Reading): | Minimum*小測(cè)量點(diǎn): |
磁感應(yīng)測(cè)頭 | F0.5M-0 F0.5M-45° F0.5M-90° | A | 0 ... 0.5 mm | ± (0.5 µm + 0.75 %) | Ø 3 mm |
F1.5 | B / E | 0 ... 1.5 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm | |
F1.5-90° | C | 0 ... 1.5 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm | |
F2 | B / E | 0 ... 2.0 mm | ± (1.5 µm + 0.75 %) | Ø 10 mm | |
F2.6 | B / E | 0 ... 2.6 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm | |
F5 | B / E | 0 ... 5.0 mm | ± (1.5 µm + 0.75 %) | Ø 10 mm | |
F15 | D | 0 ... 15 mm | ± (5.0 µm + 0.75 %) | Ø 25 mm | |
渦流測(cè)頭 | N0.7 | B / E | 0 ... 0.7 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm |
N0.7-90° | C | 0 ... 0.7 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm | |
N2.5 | B / E | 0 ... 2.5 mm | ± (1.5 µm + 0.75 %) | Ø 10 mm | |
N7 | D | 0 ... 7.0 mm | ± (5.0 µm + 0.75 %) | Ø 20 mm | |
雙功能測(cè)頭 | FN1.5 | B / E | F: 0 ... 1.5 mm N: 0 ... 0.7 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm |
FN1.5-90° | C | F: 0 ... 1.5 mm N: 0 ... 0.7 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm | |
FN2.6 | B / E | F: 0 ... 2.6 mm N: 0 ... 1.0 mm | ± (1.0 µm + 0,75 %) | Ø 5 mm | |
FN5 | B / E | F: 0 ... 5.0 mm N: 0 ... 2.5 mm | ± (1.5 µm + 0.75 %) | Ø 10 mm |
篤摯儀器主要經(jīng)營的儀器有EPK壁厚測(cè)厚儀MiniTest FH7200 FH4探頭 測(cè)頭FH 4.1 EPK壁厚測(cè)厚儀MiniTest FH7400 EPK涂層測(cè)厚儀探頭Printer MiniPrint7000 A/B掃描超聲波測(cè)厚儀DMS2E/DMS2/DMS2TC 超聲波測(cè)厚儀TT130 超聲波測(cè)厚儀TT120 高精密超聲波測(cè)厚儀PX-7DL 高精密超聲波測(cè)厚儀PX-7 A/B掃描高精密超聲波測(cè)厚儀PVX 超聲波測(cè)厚儀TT100 高精密超聲波測(cè)厚儀CL400探頭 帶A/B掃描功能的超聲波測(cè)厚儀MVX 高精密超聲波測(cè)厚儀CL5 超聲波測(cè)厚儀TT110 超聲波測(cè)厚儀MMX-6 A/B掃描超聲波測(cè)厚儀DMS Go 水下超聲波測(cè)厚儀UMX-2 超聲波測(cè)厚儀MMX-6DL 一體化超聲波測(cè)厚儀PocketMIKE 超聲波測(cè)厚儀PosiTect0rUTG Std 超聲波測(cè)厚儀MX-3 超聲波測(cè)厚儀MX-5 超聲波測(cè)厚儀PosiTect0rUTGME 超聲波測(cè)厚儀MX-5DL 超聲波測(cè)厚儀DM5E Basic 超聲波測(cè)厚儀DM5E 超聲波測(cè)厚儀DM5EDL 濕膜測(cè)厚儀WetTest 德國EPK GalvanoTest小樣品夾具 德國EPK庫侖鍍層測(cè)厚儀GalvanoTest 2000 超聲波涂層測(cè)厚儀PosiTector200 庫侖鍍層測(cè)厚儀GalvanoTest 3000 涂層測(cè)厚儀
