CL5超聲波測厚儀影響因素
CL5是一個質量控制和生產測量工具，可用于各種工業(yè)，但主要用于汽車、航空和航天工業(yè)。它可以用于抽檢來料厚度，如鋼圈，也可以通過中間和后期測量，來監(jiān)測機械加工過程。同時，它還可以用于塑料部件的精密厚度測量。
CL5超聲波測厚儀影響因素
影響超聲波測厚儀的指標因素：
- 檢測面與底面不平行，聲波遇到底面產生散射，探頭無法接受到底波信號。
- 工件曲率半徑太小，尤其是小徑管測厚時，因常用探頭表面為平面，與曲面接觸為點接觸或線接觸，聲強透射率低（耦合不好）。
- 超聲波測厚儀所測工件表面粗糙度過大，造成探頭與接觸面耦合效果差，反射回波低，甚至無法接收到回波信號。
- 鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大，在其中穿過時產生嚴重的散射衰減，被散射的超聲波沿著復雜的路徑傳播，有可能使回波湮沒，造成不顯示。
- 探頭接觸面有一定磨損。
- 溫度的影響。
- 層疊材料、復合（非均質）材料。
- 金屬表面氧化物或油漆覆蓋層的影響。
聲速測量選件：CL5 VL
可測定聲波穿過鑄件、合金或者塑料時的速度，得出所測材料內部組織是否緊密無缺陷。 如可預先將球墨鑄鐵不同球化率百分比(通過金相法)試樣做出，分別測量其不同的聲速值，對鑄件進行批量檢查。
實時A掃描選件：CL5 AS
可選實時A掃描功能使得用戶可以實時觀察CL 5正在以數(shù)字方式測量的回波。觀察實時A掃描可以幫助用戶正確調整探頭和測試件，從而獲得zui測量值。用戶通過觀察實時A掃描可以確保測量的是正確的回波并且數(shù)字值也是正確的。
數(shù)據(jù)記錄器選件：CL5 DR
利用數(shù)據(jù)記錄器選項可以快捷地以文件形式存儲厚度值。用戶可*編程的數(shù)據(jù)記錄器zui多可以存儲10000個測量值或者500個帶A掃描的值。可編程數(shù)據(jù)記錄器可以直接從CL 5鍵盤創(chuàng)建數(shù)據(jù)記錄器文件， 或者利用靈活的UltraMAite或UltraMATE軟件程序通過電腦創(chuàng)建。數(shù)據(jù)記錄器支持字母數(shù)字文件名、標準線性和網(wǎng)格文件以及自定義線性文件。
擴充了的文件類型存儲每一測量點的厚度值、聲速設置以及其它關鍵數(shù)據(jù)。CL5 和 UltraMATE一起構成了*的測試數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)。
CL5是一個質量控制和生產測量工具，可用于各種工業(yè)，但主要用于汽車、航空和航天工業(yè)。它可以用于抽檢來料厚度，如鋼圈，也可以通過中間和后期測量，來監(jiān)測機械加工過程。同時，它還可以用于塑料部件的精密厚度測量。CL5兼容各種類型的接觸式探頭和延遲塊探頭，使用延遲塊探頭對薄壁部件進行測厚時，延遲自動測量模式將自動從接觸面回波轉為底面回波，再轉為多回波測量。
