手持式光譜儀主要由X光管、探測(cè)器、CPU以及存儲(chǔ)器組成，由于其便攜具有、便攜、準(zhǔn)確等特點(diǎn)，使其在合金、礦石、環(huán)境、消費(fèi)品等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。 要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強(qiáng)度準(zhǔn)確性和波長(zhǎng)準(zhǔn)確性以及強(qiáng)的抗外界干擾性和優(yōu)良的儀器穩(wěn)定性，在儀器的軟件上，要求能夠進(jìn)行導(dǎo)數(shù)、去卷積等復(fù)雜的數(shù)學(xué)計(jì)算，能夠計(jì)算光譜間相似度、模式識(shí)別分析、支持多元校正分析和用戶自建譜庫(kù)并進(jìn)行檢索
手持合金光譜儀可分析黑色金屬、有色金屬、合金的化學(xué)成分，能幫助客戶在質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、防范、事故調(diào)查等現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用領(lǐng)域中，進(jìn)行合號(hào)鑒別、金屬成分分析，獲得準(zhǔn)確、可靠的分析檢測(cè)結(jié)果。 現(xiàn)場(chǎng)無(wú)損檢測(cè)。擁有廣泛、可自定義牌號(hào)庫(kù)，保證合金鑒別。

手持式光譜儀設(shè)備維護(hù)與保養(yǎng)： 　　
1.手持式光譜儀使用過(guò)程中應(yīng)輕拿輕放，防止內(nèi)部零件受損。
 2.保持檢測(cè)口薄膜的清潔，檢測(cè)口薄膜被污染可能引起檢測(cè)誤差。檢測(cè)口薄膜破損繼續(xù)使用可能會(huì)造成手持式光譜儀的損壞。應(yīng)及時(shí)清潔或更換。 　　
3.被檢測(cè)物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機(jī)或金剛砂去除，以免造成測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確，被檢測(cè)物表面凹凸不平、有毛刺時(shí)應(yīng)在檢測(cè)時(shí)注意，防止手持式光譜儀檢測(cè)口薄膜損壞。檢測(cè)鍍件時(shí)，要將電鍍層去除。 　　
4.手持式光譜儀電池使用至10%時(shí)，應(yīng)更換電池，充電。

技術(shù)參數(shù)： 重量： 1.6kg 尺寸： 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） 激發(fā)源： X射線管，Ag靶，40kV 檢測(cè)器： SI-PIN檢測(cè)器 操作系統(tǒng)：HP掌上電腦：Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統(tǒng)：Peltier 半導(dǎo)體冷卻系統(tǒng) 電源： 交、直流供電;充電鋰電池 工作條件：溫度：-20 ℃ ～ 55 ℃ 　濕度：0～95%

手持式分析儀 探測(cè)器：13mm2 電致冷Si-PIN探測(cè)器 激發(fā)源：40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測(cè)時(shí)間：10-200秒（可手持式或座立式測(cè)試） 檢測(cè)對(duì)象：固體、液體、粉末 檢測(cè)范圍：硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時(shí)分析元素：多至26個(gè)元素 元素檢出限：0.001%～0.01% 校正方式： 銀(Ag) 性：自帶模式，非人員無(wú)法使用 Data使用性：可在PDA內(nèi)進(jìn)行編輯，可導(dǎo)入PC機(jī)進(jìn)行 保存打印，配備海量存儲(chǔ)卡 電 源： 兩塊鋰電池滿電可連續(xù)工作8小時(shí)
手持式光譜分析儀 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
 1、一鍵式開(kāi)機(jī)并檢測(cè)。 2、一體式供電，解決了電腦缺電造成測(cè)試數(shù)據(jù)丟失的風(fēng)險(xiǎn)。 3、只需開(kāi)機(jī)一次。（超長(zhǎng)待機(jī)無(wú)需關(guān)閉電源，無(wú)檢測(cè)操作時(shí)自動(dòng)待機(jī)，同時(shí)光管及探測(cè)器斷電停止工作） 4、自動(dòng)關(guān)機(jī)（自定義長(zhǎng)時(shí)間未進(jìn)行檢測(cè)操作）