分析方法能量色散X熒光分析方法 測量元素范圍鎂（Mg）到鈾（U）之間的元素均可測量 同時檢測元素數幾十種元素可同時分析 處理器和內存CPU：667MHz,內存：256M，擴展存儲支持32G，標配2G，可以海量存儲數據 含量范圍ppm～99.99% 檢測時間3-30秒 GPS、WIFI內置系統 檢測對象固體、液體、粉末 探測器25mm2 0.3mil，SDD探測器 探測器分辨率可達139eV 激發源40KV/100uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源 視頻系統高清晰攝像頭 顯示屏半透半反式液晶顯示觸摸屏，其分辨率是640*480 檢出限檢出限達ppm級 安全性自帶密碼管理員模式，數據可隨意保存 可充氣系統常壓充氦氣系統 數據傳輸數字多道技術，SPI數據傳輸，分析，高計數率 操作環境濕度≤90% 儀器外形尺寸234×306×82mm（L×H×W） 儀器重量1.9Kg（配備電池），1.6Kg（無電池）
手持式光譜儀產品詳細資料介紹，手持式光譜分析儀技術參數和性能配置由蘇州實譜信息科技有限公司提供手持式光譜儀報價和操作說明。按照不同的行業和測試物質，可分為手持式合金分析儀XRF5000，手持式礦石分析儀XRF7000，XRF8000，手持式土壤重金屬分析儀XRF9000，手持式ROHS有害元素分析儀XRF3000。利用新一代半導體檢測器提高測試速度和分析精度，手持式光譜儀的應用已經越來越廣泛。手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器，當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子從而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的狀態,當較外層的電子躍遷到空穴時,產生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不被原子內吸收,而是以光子形式放出,便產生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。
技術參數： 重量： 1.6kg 尺寸： 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） 激發源： X射線管，Ag靶，40kV 檢測器： SI-PIN檢測器 操作系統：HP掌上電腦：Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統：Peltier 半導體冷卻系統 電源： 交、直流供電;充電鋰電池 工作條件：溫度：-20 ℃ ～ 55 ℃ 濕度：0～95%
手持式分析儀 探測器：13mm2 電致冷Si-PIN探測器 激發源：40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測時間：10-200秒（可手持式或座立式測試） 檢測對象：固體、液體、粉末 檢測范圍：硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時分析元素：多至26個元素 元素檢出限：0.001%～0.01% 校正方式： 銀(Ag) 性：自帶模式，非人員無法使用 Data使用性：可在PDA內進行編輯，可導入PC機進行 保存打印，配備海量存儲卡 電 源： 兩塊鋰電池滿電可連續工作8小時
手持式光譜儀用于的定量定性分析：
手持式光譜儀是一種功能強大,并且可擴展的手持式光譜儀,廣泛用于金屬材料的成分分析,牌號鑒別和分選.它包括激發和配有可充電電池的光譜儀主機兩部分.它工作時,既不需要氬氣,也不需要放射源。 1、原理：手持式光譜儀屬于熒光光譜,實驗室用的直讀屬于火花直讀光譜,是激發源不同 2、精度：手持式光譜儀主要用于定性分析,實驗室用的火花直讀光譜主要用于定量分析 3、分析范圍：手持式光譜儀可分析金屬及礦石,并且可分析一些火花直讀無法激發的基體,例如鋯基體；實驗室直讀光譜儀雖然分析的基體比手持式的少,但是相同基體里分析的元素種類比手持式的要多。
手持式光譜分析儀 產品優勢：
1、一鍵式開機并檢測。 2、一體式供電，解決了電腦缺電造成測試數據丟失的風險。 3、只需開機一次。（超長待機無需關閉電源，無檢測操作時自動待機，同時光管及探測器斷電停止工作） 4、自動關機（自定義長時間未進行檢測操作）
