T300V下照式鍍層測厚儀
T300V是佳譜儀器集多年X熒光光譜儀技術積累與鍍層應用經驗,專門設計研發的 一 款下照式結構的鍍層測厚 儀,性價比高、適用性強。
該款采用的FP算法同時搭配高速數字多道技術, 應對各大小平面件、曲面件金屬鍍層及電鍍液檢測時檢出 限低,性能穩定,檢出限可達0.005um,是一款頗具客戶 好評的C型腔體設計的實用型膜厚儀。
應用領域
配置,值得更優性能
相比圖2普通接收器,T300V采用了更為的高分辨率探測器,能的將不同元素的信號準確 解析,針對單層、多層或復雜合金鍍層的測量,測量精度更高,穩定性更好。
儀器參數
選擇T300V的理由
檢測實例