一、簡介

微電子產業遵循摩爾定律，隨著芯片工藝和設計方法的進步，集成度越來越高，新的應用領域和市場需求，必然會導致超大規模的集成電路普遍使用。然而作為高科技的象征，大部分超大規模的芯片都是由國外廠家研發、生產，由于政治原因以及行業技術壁壘，使得國內設備生產廠家無法通過正常途徑去購買芯片，但是在國內半導體市場，偽劣芯片在超額利潤驅使下，正隨著市場的繁榮而愈演愈烈，造假手段種類繁多，花樣層出不窮并呈高科技化，如翻新國外電子垃圾、芯片代工廠的廢品，打磨金屬封裝、殼體置換、溫度等級修改、速度等級修改等；傳統的依靠肉眼鑒別手段越來越力不從心，盡管國外有專用測試設備，基本都是針對IC生產領域，主要是面向單一品種批量測試應用，價格高昂，并且使用極其困難，國內雖然也有專業的芯片測試設備，但卻對超大規模如DSP、FPGA、ARM、Powerpc、高速AD/DA等BGA封裝器件無能為力。目前，國內電子設備廠商對采購的超大規模器件，質量基本上是由采購部門辦事人員的人脈資源和渠道來保證。 如何構建超大規模芯片測試保障系統，有效保證器件質量，已成為國內整機廠家尤其是單位亟待解決的頭等大事。

二、產品組成：

BK-ITEST芯片測試儀就是根據目前市場上偽劣愈演愈烈，避免廣大用戶及商家深受其害而研發的應用于流通環節質量控制的芯片測試設備，芯片測試儀利用靈活的可擴展性能的PXI總線與邊界掃描技術相結合，利用邊界掃描技術提高系統結構故障（引腳的呆滯型故障、短路故障、開路故障）的覆蓋率和診斷能力，PXI總線的功能測試能力再加上邊界掃描技術可以使系統的功能測試更加強大。產品主要應用于各類電子整機廠家、企業的質量檢測部門進行入廠檢驗、質量評估和可靠性分析測試。測試儀由測試主機、芯片封裝適配器以及相關的配件組成。

系統組成：

● PXI測試總線，機箱采用3U和6U混合結構，便于擴展。

● 高性能主頻1.6Ghz 雙核CPU，操作系統：WindowsXP。

● 供電單元：10路可編程電源，支持范圍：0~±15V。

● 邊界掃描控制卡、數字示波器卡、信號發生器卡。

● AD/DA卡、數字I/O卡、數字萬用表。

● 矩陣開關、GPIB控制卡、接口適配器。

 

結構圖：

三、系統特點

● 提供給客戶的是一個通用平臺，可根據實際需求實現量身定制。

● 通用總線插槽可任意配置測試選件，模塊化設計，良好的擴展性，可以滿足不同的測試需求。

● 數量眾多的適配板以及各種不同封裝的Socket。

● 內置芯片測試程序，一鍵式操作，使用簡單。

● 測試結果顯示PASS or FAIL，操作人員不需要專業知識。

● 測試參數豐富可調，可輸出完整的測試報告。

● 測試元器件庫快速擴充，有眾多的技術人員進行專業的測試開發。

三、軟件特點

● 測試界面簡潔

● 可建立不同品牌各種器件模型庫，并根據器件功能進行分類

● 測試快速，操作方便，過程可控，結果直觀