OMI 紫外-近紅外
多功能波前傳感器
技術規格 | |
硬件 | |
測試 | 光學元件、激光器和激光二極管 |
可測試的激光二極管功率 | 幾兆瓦，更高的功率需要一個功率降低系統（可選購） |
微透鏡陣列數量（見如下相機） | 50x50（紫外-可見光-近紅外），瞳面直徑10mm |
標準小透鏡陣列的直徑和焦距 | ? Φ=0.2mm、f=22mm，適用于300-750nm的紫外-可見光波段 ? Φ=0.2mm、f=11mm，適用于750-1100nm的近紅外波段 |
軟件 | |
軟件（控制和分析） | Sensoft適用于Win7, Win8, Win10 64bit |
Zernike系數的RMS可重復性 | <2nm rms（λ/ 800 @ 1050nm） |
模態波前測量的RMS重復性 | <λ/ 100 |
精度和動態范圍 | λ/ 20-λ/ 100（取決于校準），±50λ |
相機 | |
探測器、波長范圍和散熱 | CMOS（紫外-可見光-近紅外）。無需散熱。 |
分辨率、像素尺寸、芯片尺寸 | 1024×1024像素，每個像素10.6μm，10.9 x 10.9mm2 |
接口，A / D轉換器 | 以太網接口，12-bits |
采集速度 | 75 Hz（CCD） |
觸發 | Yes |
曝光時間（） | 800 msec |
附件 | |
光源，擴束器和壓縮器 | 高質量LD激光光源，附帶對應波長下的整形鏡，擴束鏡/縮束鏡 |
CMOS量子效率曲線 紫外-可見光-近紅外 OMI
其他詳情 | 其他詳情 |
? 分辨率：1024×1024像素 | ? 分辨率：50×50（） |
? 像素尺寸：10.6μm×10.6μm | ? 微透鏡間距和焦距（紫外和可見光）：0.2mm，22mm |
? 芯片尺寸：10.9mm×10.9mm | ? 微透鏡間距和焦距（近紅外）：0.2mm，11mm |
? 圖像速率：75 Hz（解析度） | ? 平行光校準裝置：靜態或動態高質量準直儀，帶 |
? 飽和度：≥900000e-，信噪比：200 | 有對應波長下的LD/LED |
? 曝光時間：800毫秒 | ? 電機節距：2.5μm |
? 接口：以太網 |
SENSOFT：軟件
Sensoft：模塊化軟件包
? 可控制OMI的硬件
? 執行Shack-Hartmann（SH）分析
? 計算Zernike系數，診斷（對準和正確的焦平面），區域和模式波前，MTF，點列圖
? 具有用于光學系統在線調整的循環模式
OMI用于生產線：
? 帶有專用PC的OMI可以輕松的適應生產線
? 它可以與制造設備的PC形成閉環工作
軟件模塊定義IP通信協議，并在局域網中的PC之間傳輸結果
快速回路中的在線校準 MTF測量
除去數據中存在的傾斜和離焦的影響后的MTF
? 通過連續不斷地監測彗差和像散，可以輕松實現復雜光學系統的校準。
? 顯示彗差和像散的各個（x，y）部分以及總系數。
? 每次可以對一個組件進行優化，因為該軟件可以顯示一個感興趣的組件。
帶紫外-可見光相機的OMI
? Φ=0.2mm、fl=22mm，適用于紫外-可見光波段（300-750nm）
? Φ=0.2mm、fl=11mm，適用于近紅外波段（750-1100nm）
? 分辨率50×50，瞳孔直徑10mm
主體
相機：CMOS, 以太網, 12-14bits (300-1100nm)
外形尺寸：150 (L) x 82 (W) x 82 (H) mm
重量：800 g
主要特點
測量技術：哈特曼波前傳感器
在平行光下或單次鏡頭焦點測試：
平行光（帶有校準裝置）
對準鏡頭的焦點（帶有針孔校準裝置）
可用不同波長的光源
提供校準裝置：高品質平行光源（電動或手動）.針孔校準裝置
配件：光源、擴束器/壓縮器、準直儀
軟件
? 全面波前分析：Zernikes，分區和模擬WF，點列圖，MTF，EE，PSF，M2
? 通過軟件輕松對準鏡片組：使用彗差和像散校正的圖形指示
? 激光的穩定性：激光束聚焦的圖形指示
