此款高低溫試驗(yàn)箱控制柜位于試驗(yàn)箱頂部，制冷機(jī)組位于試驗(yàn)箱后背。為滿足客戶特殊要求而定制。
設(shè)備的用途：
該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國標(biāo)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過檢測(cè)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
應(yīng)用的行業(yè)：
適合電子、塑膠制品、電器、儀表、食品、車輛、金屬、化學(xué)、建材、航天、醫(yī)療…等制品檢測(cè)質(zhì)量之用。
設(shè)備的特點(diǎn)：
1、制冷機(jī)采用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機(jī)。
2、冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。
3、采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。
4、風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。
5、升溫、降溫、系統(tǒng)獨(dú)立，降低測(cè)試成本，增長(zhǎng)壽命，減低故障率。
6、溫度控制采用全進(jìn)口觸摸按鍵式儀表，操作設(shè)定簡(jiǎn)單。
7、資料及試驗(yàn)條件輸入后，控制器具有鎖定功能，避免人為觸摸而改變溫度值。
8、具有P.I.D自動(dòng)演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為穩(wěn)定。
型號(hào)規(guī)格
型號(hào) | 工作室尺寸(mm) |
GDW-100 | 400×500×500 |
GDW-150 | 500×500×600 |
GDW-250 | 500×600×810 |
GDW-500 | 700×800×900 |
GDW-800 | 800×1000×1000 |
GDW-010 | 1000×1000×1000 |
主要技術(shù)參數(shù)
溫度范圍 | B型 | C型 | D型 | E型 |
-20℃～+150℃ | -40℃～+150℃ | -60℃～+150℃ | -70℃～+150℃ | |
溫度均勻度 | ≤±2℃ | |||
溫度波動(dòng)度 | ≤±0.5℃ | |||
升溫速率 | 2～3℃/min(可按客戶要求定做) | |||
降溫速率 | 0.7～1℃/min(可按客戶要求定做) | |||
使用環(huán)境溫度 | 常溫25℃,通風(fēng)良好 | |||
電源電壓 | AC380V/50HZ | |||
箱體材質(zhì) | 高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)箱采用1.2mm不銹鋼板，外殼1.5mm冷軋板靜電噴塑 | |||
控制系統(tǒng) | 采用日本“富士”數(shù)顯溫、濕度測(cè)控儀，精度：±0.1℃ | |||
定時(shí)功能 | 采用無錫“飛滬”時(shí)間繼電器，0～999.9h任意可設(shè)定 | |||
制冷系統(tǒng) | 采用法國“泰康”制冷機(jī)組，制冷劑進(jìn)口環(huán)保型R404A、R23 | |||
其他 | ￠50mm引線孔一個(gè)；不銹鋼樣品架二個(gè)，底部設(shè)可移動(dòng)PU腳輪 | |||
保護(hù)裝置 | 超溫保護(hù)，缺相保護(hù)，漏電保護(hù)，壓縮機(jī)超壓等多重保護(hù)功能 | |||
高低溫試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
1．GB 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2. GB 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3. GB 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4. GB/T5170.2-2017 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
5. GB2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
6. GB2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
7. GB2424.1-2008 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
