鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。
鍍層測厚儀因為采用的是主機與探頭分離式的設計，所以在購買時有兩個不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭，大量程厚可以測到5mm，F3N3的探頭，厚可以測到3mm。
在測量以mm為單位的鍍層厚度時，大量程的鍍層測厚儀LS223就可以滿足您的測量需求。客戶在選購時可以根據測量材料的厚度來選擇相應的探頭。鍍層測厚儀90天無理由退換貨，不滿意都可以退。

鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差，可以進行簡單的調零。用附送的鋁或者鐵調零板調零即可。調零方法：
1、將探頭垂直按壓在調零板中間的位置，保持探頭的穩定。
2、按下按鍵，屏幕會提示壓緊探頭，再根據提示把探頭提起15cm以上。
3、屏幕顯示0.0則調零完畢。
4、完成后，可以把有標準值的測試片放在調零板上測量。測量的數值與標準測試片的誤差范圍之內，則說明儀器可以正常使用了。

鍍層測厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應測量的原理。主要用于測量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電鍍層等非磁性材料的厚度。可以無損的測量出涂鍍層的厚度。
廣泛應用在電鍍、噴涂、管道防腐、鋁型材、鋼結構、印刷線路版、及絲網印刷等行業中。特別適合用于生產現場的質量管控。

我們全體員工以飽滿的熱情，期待與的新老朋友合作。一直秉承滿足用戶需求，至真至誠，著眼現在，放眼未來的經營理念。