Introspect T-CON及LVDS測試解決方案的產品資料:
高速多通道信號發生器在LVDS to T-CON(時序控制器)及中大尺寸顯示屏驅動芯片的測試解決方案_Introspect Tx/Rx LVDS測試解決方案（支持共模電壓調整，+-4.5% Modulation rate）
高速多通道信號發生器在LVDS to T-CON(時序控制器)及中大尺寸顯示屏驅動芯片的測試解決方案
Introspect Tx/Rx LVDS測試解決方案（支持共模電壓調整，+-4.5% Modulation rate）
附件及如下是關于Introspect T-CON及LVDS測試解決方案的產品資料及主要功能介紹，目前Introspect的產品已經廣泛應用在很多DDIC及芯片的廠商用于T-CON多通道等產品測試驗證上。
Introspect SV1C/SV3C系列產品五大亮點:
1.每個通道具備獨立注入抖動能力
2.每個通道具備調整Skew能力
3.可調整共模電壓幅值(VCOM)
4.可編程客制化碼型
5.It can completely replace the Tec DTG 5334 and has a price advantage of small size and excellent preparation
T-CON及LVDS測試解決方案:
Introspect LVDS PG的主要優勢:
1. 可以透過PG直接發圖片
2. 支持及滿足共模電壓測試要求
3. ±4.5% SSC功能的支持
其他優勢類似于CDPHY PG和BERT的功能
4.It can completely replace the Tec DTG 5334 and has a price advantage of small size and excellent preparation
