核心參數
質量分辨率26000
質量分析范圍> 12000 u
原始束流或速能量0-30kV
儀器種類飛行時間
產品介紹
全新 M6 — — 飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）科技
M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基礎上開發的新一代飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）儀器，對一次離子源（LMIG）和質量分析器（TOF Analyser）進行了突破性的改進。
此外，在硬件方面還增加了 MS/MS 功能選項，重新設計了加熱和冷卻系統；在軟件方面新增了多元統計分析（MVSA）軟件包。其設計保證了 SIMS 應用在所有領域的性能。
新的突破性離子束和質量分析器技術使 M6 成為二次離子質譜（SIMS）儀器中的耀眼光芒、工業和學術研究的理想工具。
全新 M6 具有以下突出優勢：
1 新型 Nanoprobe 50 具有高橫向分辨率 (< 50="">
2 質量分辨率 > 30,000
3 的延遲提取模式可同時實現高傳輸，高橫向質量
4 廣域的動態范圍和檢測限
5 用于闡明分子結構具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS
6 智能的 SurfaceLab 7 軟件，包括集成的多元統計分析 (MVSA) 軟件包
7 新型靈活按鈕式閉環樣品加熱和冷卻系統，可長期無人值守運行
