萊森光學iSpec-TMS400-VA180是一套多角度透反射光譜測量系統，其波長范圍為380-1100nm，可對各類平面光學元件進行反射5°-79°、透射0°-85°間的任意角度進行自動光譜測量。該系統配合全新開發的自動化測量軟件，可一次連續測量任意個不同角度的透過率和反射率，TP、TS、RP、RS也可全自動測量，無需手動切換。此外，還可以進行顏色測量、膜厚計算、折射率計算等。

iSpec-TMS400-VA180多角度透反射光譜測量系統

    透射0°-85°間的任意角度進行自動光譜測量                                       反射5°-79°間的任意角度進行自動光譜測量

透過：平行光透過樣品，到達積分球接收，經光譜儀與參考光對比計算輸出透過率數據。

反射：平行光經樣品表面反射，反射光到達積分球， 經光譜儀與參考光對比計算輸出透過率數據。

透過示意圖                                                                            反射示意圖

實現全自動光譜數據測量、全自動多角度透過率測量、全自動多角度反射率測量

測量速度快，單詞測量速度1s內

背景光干涉小：光源集成一體設計，減少外設接入

實現偏振鏡P、S偏光自動切換：可根據客戶需求增加自動偏振裝置，根據設定，依次測量不同入射角的Rp、Rs、Tp、Ts

軟件界面簡潔易操作，各窗口顯示/不顯示可根據測定需求自由設定

樣品旋轉臺與積分球旋轉臺配合工作，實現自動完成測量

自動偏振功能：可以自動轉到所需的偏振位置（自然光，S偏振，P偏振），軟件中控制轉臺可設置多組不同入射角度的測量條件，測量時一鍵式測量完成

膜厚測量功能：可通過實時測量的反射率和透過率計算出基片的折射率以及單層膜鏡片的膜厚

顏色測量功能：可根據測量需要，選擇不同的標準和不同的光源來進行測量

光譜數據分析功能：可選擇不同的測量曲線進行加、減等算術分析操作，具有針對每條曲線進行波峰、波谷的檢測、折射率計算、單層膜層厚度計算等功能，方便各種測量所需

          自動偏振功能                          膜厚測量功能                                                           顏色測量功能

光譜數據分析功能——算術運算                                                          光譜數據分析功能——波峰、波谷檢測

iSpec-TMS400-VA180可自動調整入射光角度，對各類平面光學元件進行反射5°-79°、透射0°-85°間的任意角度進行自動光譜測量。該儀器實用測量對象涵蓋手機面板，透鏡，濾光片，棱鏡等光學產品。

      手機領域                                                    透鏡                                                             濾光片

iSpec-TMS400-VA180尺寸圖

如需測量大尺寸樣品，可對儀器進行定制，可測量的樣品為485*368mm