SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀不僅僅適用于珠寶行業(yè)、貴金屬檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)，海關(guān)商檢、造幣工業(yè)等，還可完成其它分析任務(wù)如：非破壞性檢查，貴金屬分選，電子線路及電氣元件的分析等。 

特點(diǎn)：

1、電制冷的 SDD 檢測器不需液氮制冷。 
2、超大樣品內(nèi)倉（475*460*280 mm）可以放超大或者超小的樣品，對樣品的形狀沒有任何要求。 
3、采用上照式光管設(shè)計(jì)（X 光管的光束是從上往下照射樣品的），光斑電腦控制，通過攝像頭可在電腦上輕松去選定測試樣品上的某個(gè)點(diǎn)（這個(gè)優(yōu)點(diǎn)對于不規(guī)則樣品來講是*有優(yōu)勢的）；同時(shí)上照式的光管可以避免在測液體樣品時(shí)發(fā)生泄漏而損壞X 光管的問題。 
4、攝像頭 20 倍變焦放大；激光束定位，彌補(bǔ)了攝像系統(tǒng)可能的位置偏差。 
5、符合 ISO9001, CE… 德國X 射線安全使用標(biāo)準(zhǔn) 
6、不僅可對樣品的微小區(qū)域所存在的元素進(jìn)行快速無損的分析鑒定，還可對超大樣品的表面（面積可達(dá)EC 標(biāo)準(zhǔn)線路板規(guī)格的2 倍，233*160mm），進(jìn)行元素分析。 
7、SPECTRO MIDEX X 射線熒光能譜儀是為滿足多種分析任務(wù)而專門研制開發(fā)的微區(qū)分析儀器，靈敏度高，無破壞性，適合多種行業(yè)及研究領(lǐng)域。 
8、分辨率：160ev , 計(jì)數(shù)率：250000cps（目前計(jì)數(shù)率）。 
9、軟件驅(qū)動的狹縫交換器，分析面積為 0.2/0.5/1/2.5/3.3 mm. 可自由選擇，小焦點(diǎn)聚焦方式，能量無損失，定位更加精準(zhǔn)，可以測試到細(xì)小的焊端，引腳和BGA 焊球。 
10、儀器拓展性：用戶可自己建立曲線，建立測試方法，擴(kuò)展性較好，可以使儀器十年都保持，軟件升級。 
11、快速測定：可設(shè)定精度，自動控制測試時(shí)間測試，測試時(shí)間*短。 

檢測器 
- Peltier 冷卻的Si 漂移檢測器: 
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2 
- 以Mn Kα線，在測量計(jì)數(shù)率為 
10，000脈沖計(jì)數(shù)時(shí)， 能量分辨率：FWHM< 160 eV 
- 微處理器控制的檢測器和讀出電路 
- 脈沖計(jì)數(shù)率可達(dá)250，000 cps 

SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀光譜儀數(shù)據(jù) 
- 電壓：95-120V/200-240V,50/60 Hz, 
- 光譜儀能耗：200W 
- 儀器尺寸 寬x 深 x 高，單位mm 
580670x740 mm/22.8x26.4x29.1” 
- 底座尺寸寬x 深:500550 mm/19.7x21.6 ” 
- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根據(jù)不同配置 
        
分析 
- 用于合金元素分析的本參數(shù)程序FP + 
- 塑料及復(fù)合材料的RoHS指令檢測 
        
環(huán)境條件 
周圍環(huán)境溫度：5-30°C （41-85°F） 
在20-25°C （68-77°F）下，可達(dá)到標(biāo)定儀器性能 
- 在 25°C (77°F)下相對濕度: 10-80 %，無冷凝，無蒸氣腐蝕，防塵