交叉光學（B&P）系統是X射線衍射儀發展過程中突破性技術進步，即衍射儀測角儀兩套光學系統并存，軟件控制,實現在發散光學系統（B）與平行光學系統（P）相互切換，滿足不同測試目的需要，拓展衍射儀應用領域。
發散光學系統（B）：用于常規的材料結構分析，物相定性、定量分析、Kα1、α2剝離、全譜圖擬合、衍射線條指標化、無標樣定量分析等功能。
平行光學系統(P)：由X射線多層膜反射鏡將發散光聚焦成平行光束，平行光束發散度小于0.5mrad。與三維樣品架配合，實現對大于200nm薄膜樣品測量。可實現對薄膜樣品進行薄膜反射分析XRR(針對多晶、單晶多層薄膜厚度、密度、粗糙度進行精確分析）、薄膜掠入射分析GIXRD(精確分析多層膜中材料的組成、次序、取向等)。
可適用于：DX-2700系列、DX-2800X射線衍射儀。
| 產品名稱 | 參考價 | 地區 | 公司名稱 | 更新時間 | |
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