系統(tǒng)構(gòu)成

    專用采集卡    軟件包    光學(xué)暗箱（含分光衰減系統(tǒng)、軌道等）

    ST.59-2000系列備有IV型和H型兩種光學(xué)暗箱    臺式電腦（選購）

     ST.59-2000激光光束分析儀由以下部分組成：
    1. 基本系統(tǒng)：
      專用圖象采集卡：用于采集來自光圖象探測器的模擬信號，將其變?yōu)镻C機(jī)可接受的數(shù)字信號后送入PC機(jī)處理；

      專用軟件包：由“實時探測”，“存貯功能”，“分析測試”等幾部分組成  

    2. 圖象探測器：
     根據(jù)被測激光的波長，選擇適當(dāng)?shù)膱D象探測器的一種或幾種：

標(biāo)準(zhǔn)配置：1/2英寸CCD（電荷耦合器件）探測器，光譜響應(yīng)為可見及近紅外波段（360nm－1100nm） 。該CCD  適用于大多數(shù)常用激光器，如He-Ne，Ar離子，Nd:YAG、Nd:YVO4及其二、三次倍頻（532、355nm） ，半導(dǎo)體發(fā)光管及激光管，染料及鈦寶石激光器等，這些激光器的波長均在其標(biāo)配CCD的敏感波長范圍內(nèi)。該CCD的圖像敏感面積為 6.4 x 4.8 mm2。 特殊需求可選配其他規(guī)格的CCD。

其它可選圖像探測器：

a)     2/3“英寸CCD（360nm－1100nm，圖像敏感面積8.8 x 6.6 mm2）

b） 紅外敏化型CCD （紅外響應(yīng)至1310、1650nm）

c） 可見及近紅外光電陰極攝像管
    使用PbO，PbS光電陰極的真空攝像管作為圖象探測器。適用于0.4 ～ 1.9µ 波長范圍的探測， 增強型可探測 0.4 ～ 2.2µ。

d)  熱電型探測器（Pyroelectric）
    主要用于測量CO2激光(10.6µ)及其倍頻等。波長范圍為0.8 ~ 20µ 紅外激光。 

 3.光學(xué)暗箱  

      由于被探測的激光強度通常高出圖象探測器接收靈敏度若干個量級，因此必須將被測激光強度衰減到探測器的線性工作區(qū)內(nèi)。光學(xué)暗箱提供分光、衰減系統(tǒng)，使被測激光束無畸變地衰減到CCD的響應(yīng)區(qū)（線性工作區(qū)），并屏蔽來自多方面的雜散光，使其不干擾高靈敏的圖象探測器。ST.59-2000型光學(xué)暗箱由箱體、電源及楔形石英分束器、楔形反射器、衰減系統(tǒng)（固定衰減片組、連續(xù)衰減器）、光陷阱、透射屏及光學(xué)導(dǎo)軌等組成。      H型光學(xué)暗箱的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和所含的元部件與IV型相同：均含石英分光光楔與調(diào)節(jié)架、反射光楔與調(diào)節(jié)架、連續(xù)衰減器、固定衰減片組、CCD及電源等。   差別是H型使用機(jī)箱外軌道；IV使用機(jī)箱內(nèi)軌道

石英光楔分束器

         利用石英光楔的內(nèi)二次反射對被測光束進(jìn)行前級無失真衰減（衰減率約0.15%）。 由于光學(xué)級石英對被測光束的吸收小、熱脹系數(shù)小，在較強激光照射下對被測光束功率/能量分布的畸變也極小，適于作為前級衰減。 

 楔形反射鏡及二維精密調(diào)節(jié)架
     利用光楔的前表面反射對經(jīng)前級衰減的光束進(jìn)行二次衰減（衰減率約4％）及導(dǎo)向。 

 中性衰減片組：包括連續(xù)衰減器和固定衰減片組 

     固定衰減片組  用于較大幅度衰減被測光強。 該組共有6片衰減片，每個衰減數(shù)量級2片，其衰減倍率跨3個半數(shù)量級。其衰減倍率（db數(shù)）按線性分布。

連續(xù)衰減器：     為方便衰減倍率的調(diào)節(jié)，使CCD工作在線性區(qū)，IV型光學(xué)暗葙內(nèi)備有連續(xù)衰減器。它由兩片楔形中性吸收玻璃組成， 當(dāng)其中1片滑動時， 即改變光束通過兩光楔的總光程， 從而可連續(xù)改變衰減率， 大大方便了衰減倍率的獲取。 

導(dǎo)軌及標(biāo)尺 

IV型的導(dǎo)軌裝在光學(xué)暗箱內(nèi)

IV型的導(dǎo)軌在光學(xué)暗箱外，主探測盒（光學(xué)暗箱）可在導(dǎo)軌上移動

可使CCD和與其相關(guān)的衰減器等部件沿滑軌作整體移動（IV型光學(xué)暗箱中的CCD與相關(guān)部件間有聯(lián)鎖裝置；H型主探測盒整體在導(dǎo)軌上移動），從而改變探測器在光束傳播方向的位置，可測量發(fā)散角等參數(shù)。IV型暗箱內(nèi)備有I，II兩條滑軌。導(dǎo)軌I用于標(biāo)準(zhǔn)探測模式（光束經(jīng)衰減射入光敏面）；導(dǎo)軌II適用于“透射像攝取”探測模式（適用于獲取大尺寸光束圖像）、“近攝裝置”以及標(biāo)準(zhǔn)模式下需CCD移動距離較長的場合。導(dǎo)軌II上裝有備用二維調(diào)節(jié)架（可放置透鏡、反射鏡等元件）及透射屏架。

4.電腦及打印機(jī)（選購件，標(biāo)準(zhǔn)配置不含） 
     可選用任何可運行Windows 2000/XP的臺式機(jī)。打印機(jī)用于輸出測試結(jié)果，如使用彩色打印機(jī)以輸出彩色圖象效果更佳。

提示：系統(tǒng)的圖像采集卡最多可接3路圖像探測器， 軟件亦可對來自不同探測器的信號方便切換、獨立處理，故對需要經(jīng)常在不同探測模式間切換的場合可選購“第二導(dǎo)軌部件： IV型光學(xué)暗箱內(nèi)已備有第二導(dǎo)軌，只需另購第二CCD及相關(guān)分光衰減部件、電源、信號線等。對IV型則需另購第二個主探測盒。 

★可選附件――近攝裝置（選購件）：    

      本近攝裝置專用于拍攝近處物體，并可得到可達(dá)1.33的放大倍數(shù)（放大倍數(shù)=像尺寸/物尺寸）。用以拍攝“光斑透射像”可以獲取并處理小光束（如幾十微米 x 幾十微米）的近場像。由于這類小光斑的發(fā)散角往往較大，光強較強，故必須保證系統(tǒng)的“物距”足夠小，衰減部件也不能影響物距。本近攝裝置的設(shè)計可保證滿足這些條件。（本近攝裝置使用“鏡后衰減”和鏡頭光圈雙重衰減，從而得到大跨度、連續(xù)的衰減）

    本近攝裝置配有尺寸標(biāo)定膠片，用于定量標(biāo)定透射光束的實際尺度。