S1 TITAN是目前國際上（1.23kg）、基于X射線管技術的手持式XRF分析儀。快速的分析速度和出色的準確性是S1 TITAN 的兩大特性。

其他創新功能包括集成的彩色觸摸屏、50kV X射線管、SMART、Grade 計時、SharpBeam優化X射線幾何形狀、硅漂移探測器，以及極其堅固的外殼，該外殼經過密封，可以防潮防塵。

S1 TITAN 系列都采用了布魯克公司的SharpBeam技術，并配置了布魯克技術的X-Flash SDD探測器，向您提供難以置信的快速分析時間。S1 TITAN可以配備各種校準裝置，這些裝置經過優化，適用于各種樣品材料包括各種合金、不同的采礦與環境樣品，以及受限制材料。

SharpBeam技術

SharpBeam技術對探測器和放射管幾何圖形進行了優化。經優化的幾何體具有許多理想的效果，包括：

降低功率要求

減輕重量

提高測量精確度

提高探測限制

延長電池壽命

S1 TITAN手持光譜儀小巧的設計，精準的測量精度，抵抗惡劣環境的能力，更加適合用戶在各種環境中使用，如高溫、高壓、潮濕，甚至是雨中作業時都能確保設備正常運轉，使用起來更加輕巧方便。

手持式熒光光譜儀應用領域：

石油化工/航空航天/金屬回收與分類/質量控制

/鋼鐵/電站電廠

鍋爐、容器、管道等/機械制造與加工

貴重金屬分析/汽車

S1 TITAN 優點一覽

可用校準功能包括：合金、黃金和貴金屬、塊狀材料（電子廢料和催化轉換器）、土壤、采礦、受限制材料和客戶特定功能

優異的 SDD 探測器技術

優異的計數率和分辨率（相比上一代SiPIN 儀器）

比上一代的速度更快

探測限制更低

易于分析輕元素，例如鎂、鋁和硅，而無需真空或氦氛圍（S1 TITAN

S1系列手持式X熒光光譜儀技術參數：

重量尺寸：1.23Kg 25cm(L)×28cm(W)×9cm(H)

檢測器：XFlash 硅漂移檢測器（SDD），檢測速度快；分辨率：145eV；計數率：250Kcps

高分辨率Si-PIN檢測器；分辨率：195eV

激發源：X射線管，RH靶，電壓50kv

測量范圍：Mg-U/Ti~U

濾波器：5位自動濾波器

工作條件：溫度范圍：-20℃~ +55℃；濕度范圍：0~95%

操作系統：Windows 5.0 Bruker專用軟件

電源：可交、直流供電；可充電鋰電池，可連續工作8-12小時

顯示器：240×320彩顯；65536像素；背景光可調；觸摸屏

系統安全：密碼保護，紅外和背散射雙重保護開關

數據存儲：能存儲數萬個數據及光譜

數據傳輸：USB、藍牙、普通U盤等

運輸保證：Pelican袖珍儀器箱，減震、抗壓、防水、密封

售后服務：2年，終身維護

認證證書：CE、TUV、ISO9001、IECEE

冷卻系統：Peltier半導體冷卻器

操作語言：包括中、英文在內共14種語言（用戶自選）

校準：Duplex校準

電池充電器：交流充電器；110/220V，50/60Hz

樣品高溫度：500℃/150℃