Langer E1抗干擾開發系統

Langer E1抗干擾性開發系統是一套集成電路板開發過程中進行抗干擾分析的 EMC工具系統。采用E1抗干擾開發系統，能夠快速精準地定位脈沖群干擾和靜電放電干擾的原因（薄弱點），使工程師開發人員能夠準確針對薄弱點設計恰當的 EMC措施，并且使用 E1 評估 EMC措施的效果。E1 檢測設備的搭建空間小，適宜于在電子元件開發人員的工作場地使用。E1 用戶手冊對EMC工作機制以及集成電路板去干擾的基本測量策略作出詳細描述。E1 組套包括一個脈沖群干擾和靜電放電干擾發生器、九種不同的電場和磁場源、以及其他各類附件。

Langer E1抗干擾開發系統中的脈沖群發生器SGZ21產生零電勢脈沖狀干擾信號。它采用電氣隔離的對稱輸出。SGZ21的電流脈沖可以部分地與構件、電纜、屏蔽或者接地系統耦合；可以注入模塊，或者間接通過場源耦合進入受測設備。SGZ21內置一個脈沖密度計數器，通過光學輸入端口測量模塊產生的信號。

Langer E1抗干擾開發系統中的S21 型傳感器是一個數字探頭，在猝發序列試驗中，無反作用地傳遞受試設備發出的數字信號。使用時將其固定在受試設備的電路板上，由受試設備供電。數字信號在傳感器中被轉換為光學信號，并通過光纖傳遞至接收器或示波器。