計算機全數字化控制，操作簡捷直觀。
步進馬達自動進行針尖--樣品逼近，保證實驗圓滿成功。
深度陡度測量，三維顯示。
儀器特點 ：
計算機全數字化控制，操作簡捷直觀。
步進馬達自動進行針尖--樣品逼近，保證實驗圓滿成功。
深度陡度測量，三維顯示。
納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統計。
Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區域．
標準RS232串行接口,無需任何計算機卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達40000點/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。
技術指標 ：
STM探頭
樣品尺寸：厚度小等于15mm。
XYzui大掃描范圍：標準6X6微米
可選3μm×3μm,10μm×10μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm
Ｚ向分辨率：0.01nm(HOPG定標)
XY二維樣品移動范圍：５mm
樣品-針尖白光照明
步進馬達自動進行針尖-樣品逼近(自動保護針尖)
全金屬屏蔽防震隔音箱（選配）
精密隔震平臺（選配）
電子學控制器 ：
XTZ控制 18-Bit D/A
數據采樣 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣
Z向反饋 DSP數字反饋
反饋采樣速率 64.0KHz
高壓放大器 集成高壓運算放大器，zui大電壓范圍+/-150V
頻率范圍 ---
幅度范圍 ---
掃描速率 21Hz
掃描角度 0-360度連續可調
掃描偏移 任意
圖像采樣點 256X256或512X512
步進馬達控制 手動和自動進退
計算機接口 標準RS232串行/USB
